1概覽

The leading nano metrology tool for failure analysis and large sample research

作為一位失效分析工程師，您的任務(wù)是提供結(jié)果。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯誤的存在。Park NX20，這架精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，在半導(dǎo)體和硬盤行業(yè)中大受贊揚。

More powerful failure analysis solutions

Park NX20具備無二的功能，可輕易找出儀器失效的原因并幫助制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。的精密度為您帶來高分辨率數(shù)據(jù)，讓您能夠更加專注于工作。與此同時，True Non-Contact™掃描模式讓探針*更鋒利、更耐久，無需為頻繁更換而耗費大量的時間和金錢。

Easy to use, even for entry level engineers

Park NX20原子力顯微鏡擁有業(yè)界較為便捷的設(shè)計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力，也不用為此而時時監(jiān)督初級工師。借助這一系列特點，您可以更加專注于解決更為重大的問題并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析。

2技術(shù)信息

Accurate AFM Solutions for FA and Research Laboratories

Sidewall measurements for 3D structure study

Park NX20原子力顯微鏡的創(chuàng)新構(gòu)造讓您可以檢測樣品的側(cè)壁和表面，并能夠測量角度。眾多的功能和用途正是您的創(chuàng)新性研究和敏銳洞察力所*的。