B1500A/B150/B1506A MOSFET半導(dǎo)體分析儀B1500A和吉時(shí)利4200
參考價(jià) | ¥ 69000 |
訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 深圳市龍崗區(qū)捷倫電子儀器經(jīng)營(yíng)部
- 品牌 Agilent/安捷倫
- 型號(hào) B1500A/B150/B1506A
- 產(chǎn)地 馬來(lái)西亞KeysightB1500A/B1505A/B1506A/Keithley4200SCS
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/11/21 10:27:26
- 訪問(wèn)次數(shù) 887
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,電氣 |
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銷售Keithley4200 SCS是德B1500A/B150/B1506A 雷依婷138+2659-653(WeChat)
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深圳佳捷倫電子儀器有限公司
負(fù)責(zé)人:雷依婷/歐陽(yáng)先生
CALL:138+2659-6538/135+1050-0080
ADD:深圳市龍崗區(qū)平新北路163號(hào)廣弘星座B棟12樓
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Keithley 4200-SCS 參數(shù)分析儀
MOSFET半導(dǎo)體分析儀B1500A和吉時(shí)利4200SCS現(xiàn)貨 雷依婷138+2659-653(WeChat)
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深圳佳捷倫電子儀器有限公司
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CALL:138+2659-6538/135+1050-0080
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半導(dǎo)體可靠性
使用 4225-PMU 脈沖模塊執(zhí)行的可靠性測(cè)試
在執(zhí)行復(fù)雜的可靠性測(cè)試時(shí),4200-SCS 可以幫您處理復(fù)雜的工作。包括諸如熱載流子注入降解 (HCI) 和負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性 (NBTI) 之類的項(xiàng)目,可幫助您快速進(jìn)行器件分析。對(duì)于大型實(shí)驗(yàn)室,4200-BTI 套件隨附支持網(wǎng)站地圖繪制和自動(dòng)探測(cè)器控制功能的 Keithley ACS 軟件。
評(píng)估 MOSFET 設(shè)備的熱載波感應(yīng)劣化
特點(diǎn)MOSFET半導(dǎo)體分析儀B1500A和吉時(shí)利4200SCS現(xiàn)貨 雷依婷138+2659-653(WeChat)
只需一組測(cè)試,即可滿足您的直流 I-V、C-V 和脈沖測(cè)量需求
支持多種探頭站和外部?jī)x器
循環(huán)系統(tǒng)易于使用,允許在無(wú)需編碼的情況下重復(fù)測(cè)試
提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測(cè)量功能
在 MOSCAP 器件上執(zhí)行的超低頻 C-V 掃描
采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過(guò)僅使用源測(cè)量單元 (SMU) 儀器實(shí)現(xiàn)應(yīng)用,同時(shí)可與 4210-CVU 結(jié)合使用,執(zhí)行更高頻率測(cè)量。
二手KeysightB1500A價(jià)格Keythley4200半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 雷依婷138+2659-653(WeChat)
4200-SCS 參數(shù)分析儀可在高阻抗設(shè)備上執(zhí)行極低頻電容-電壓測(cè)量
簡(jiǎn)化 MOSFET/MOSCAP 設(shè)備檢定的提示和技術(shù)
特點(diǎn)
.01 ~ 10 Hz 頻率范圍,1 pF ~ 10 nF 靈敏度
3? 位典型分辨率,小典型值 10 fF
非易失內(nèi)存
使用 4225-PMU 脈沖模塊執(zhí)行的 PUND 內(nèi)存測(cè)試序列
通過(guò)全面脈沖 I-V 檢定在測(cè)試中利用新技術(shù)。 4200-SCS 為 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測(cè)試,從浮動(dòng)門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM,不一而足。 電流和電壓雙源和測(cè)量功能同時(shí)支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。
用于非易失內(nèi)存測(cè)試的單納秒脈沖解決方案
非易失內(nèi)存技術(shù)脈沖 I-V 檢定
使用長(zhǎng)電纜或電容式夾具時(shí)進(jìn)行測(cè)試
Vg-Id test performed with the 4201-SMU module
當(dāng)測(cè)試需要非常長(zhǎng)的電纜或具有較高電容的夾具時(shí),請(qǐng)使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測(cè)試站、探測(cè)器、開關(guān)矩陣或任何其他大型或復(fù)雜的測(cè)試儀?,F(xiàn)場(chǎng)可安裝版本使您無(wú)需將設(shè)備返回服務(wù)中心即可增加容量。
納米級(jí)設(shè)備檢定
碳納米管 FET 系列曲線
4200-SCS 的集成儀器功能可簡(jiǎn)化碳納米管等納米級(jí)電子器件開發(fā)方面的測(cè)量要求。 從預(yù)配置測(cè)試項(xiàng)目開始著手,逐步擴(kuò)大您的研究工作范圍。 SMU 的脈沖源模式可幫助緩解過(guò)熱問(wèn)題,數(shù)秒內(nèi)即可完成與低電壓 C-V 和超快速脈沖直流測(cè)量的組合。
碳納米管晶體管 (CNT FET) 的電氣檢定
材料電阻率
使用共線四點(diǎn)探頭進(jìn)行的材料科學(xué)電阻測(cè)量
使用集成了 SMU 的 4200-SCS,可通過(guò)四點(diǎn)同軸探頭或范德堡法輕松測(cè)量電阻率。 內(nèi)含測(cè)試可自動(dòng)重復(fù)執(zhí)行范德堡計(jì)算,節(jié)省您寶貴的研究時(shí)間。 10aA 的大電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準(zhǔn)確和精準(zhǔn)的結(jié)果。
4200-SCS 參數(shù)分析儀和四點(diǎn)同軸探頭可用于執(zhí)行半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)量
4200-SCS 參數(shù)分析儀可用于執(zhí)行范德堡和霍爾電壓測(cè)量
MOSFET 檢定
在 4200-SCS 參數(shù)分析儀上進(jìn)行的 MOSFET 閾值電壓測(cè)量
4200-SCS 可容納所有必要的儀器,用于通過(guò)組件或晶圓測(cè)試執(zhí)行全面的 MOS 設(shè)備檢定。 內(nèi)含測(cè)試和項(xiàng)目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動(dòng)離子濃度等問(wèn)題。 只需觸摸一個(gè)儀器盒中的按鈕,即可運(yùn)行所有這些測(cè)試。
4200-SCS 參數(shù)分析儀可用于執(zhí)行 MOS 電容 C?V 檢定
備注:
我們的優(yōu)勢(shì):
品種齊全,貨源充足,存庫(kù)雄厚,服務(wù)快捷,維修能力強(qiáng)。
歡迎!上門看貨!價(jià)格好商量!您的滿意是我們的追求!
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本公司*供應(yīng)/租賃/維修二手進(jìn)口儀器
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