LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
 
LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
  
  隨機附送儀器箱
（儀器的舉例）

  特點概述

   
 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
 校準(zhǔn)選項
 出廠時已校準(zhǔn)，立即可用
 在未知涂層上校準(zhǔn)*
 零校準(zhǔn)*
 在無涂層的基體上一點和多點校準(zhǔn)*
 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
 
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時調(diào)出
 
 可選擇的顯示模式，以佳形式去完成測量任務(wù)*
 輸入和極限監(jiān)視*
 在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*
 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
 統(tǒng)計*
 
 可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
 小值、大值、測量個數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
 局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
 在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值概括
LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭   * 取決于配置級別

  3種配置級別以更好的完成測量人任務(wù)

LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別
 
 基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
 高級型 - 附加統(tǒng)計評估
 專業(yè)型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
   
如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。
這里有操作指南和制定模塊的參考說明。