XCH12000微光斑X射線面密度測量儀

1、 應用微光斑檢測實現(xiàn)很高的空間響應能力和分辨能力，測量更加精細敏感，給出數(shù)據(jù)可反映出極片上的裂縫，刮痕，斑點等小的瑕疵缺陷，可探測到極片上小1mm寬度的刮痕。
2、特殊的與微光斑相匹配的射線探測器： a.采用低吸收效率的材料的薄窗，提高X射線的窗透過率；b.改變電離室內(nèi)極片排列結(jié)構(gòu)，優(yōu)化探測器電場；c.優(yōu)選電離室內(nèi)的充氣介質(zhì)，提高電離效率。在小光斑探測的條件下，經(jīng)信噪比優(yōu)化設計，并配合多種環(huán)境測量傳感器補償環(huán)境影響，修正測量結(jié)果。
3、優(yōu)化軟件算法：采用探測數(shù)據(jù)與運動控制模塊擬合關(guān)聯(lián)技術(shù)，應用數(shù)據(jù)重建算法，重現(xiàn)削薄區(qū)涂布輪廓，實現(xiàn)了片兩側(cè)邊緣和首尾兩端的削薄區(qū)輪廓測量，避免鋰電池極片析鋰現(xiàn)象。

XCH12000微光斑X射線面密度測量儀超小微光斑：采用長隧道高準直技術(shù)，X射線發(fā)生器輸出6*6mm小尺寸矩形X射線光斑。并采取X光管長壽命穩(wěn)定技術(shù)，改變管電流，加大X射線輸出量。