透過(guò)率光譜分析儀：是一套專門為檢測(cè)光學(xué)組件透過(guò)率而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的，目前越來(lái)越多的光學(xué)元件對(duì)透過(guò)率的要求越來(lái)越高，部分元件在加工過(guò)程中甚至要全檢透過(guò)率來(lái)控制產(chǎn)品品質(zhì)。sp-tp能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面、球面光學(xué)元件的透過(guò)率，可實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過(guò)率數(shù)據(jù)及波段平均透過(guò)率的值和小值等數(shù)據(jù)。

光學(xué)透過(guò)率光譜分析儀性能特點(diǎn)

1、單次測(cè)量速度20ms內(nèi)，能快速連續(xù)測(cè)量，被測(cè)物在測(cè)量平臺(tái)上可以快速移動(dòng)。  
    
  2、外界光影響微小。  
    
  3、全新軟件，輕松實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)管理。  
    
  4、操作方便快捷，適合大批量產(chǎn)品的檢測(cè)。

光學(xué)透過(guò)率光譜分析儀技術(shù)參數(shù)

名稱：     透過(guò)率光譜分析儀

型號(hào)：             SP-TP-I                               SP-TP-II                                      

檢測(cè)范圍：      380-1000nm                   380-1100nm

信噪比：          250:1                                    450:1

波長(zhǎng)分辨率： 0.2-1nm                             0.2-1nm

相關(guān)檢測(cè)誤差：<0.5%（400-800nm）        <0.2%(400-800nm)

測(cè)量方法：參比空氣透過(guò)率單次測(cè)量時(shí)間：<50ns                                   <50ns  

波長(zhǎng)精度：      <1nm                                   <1nm

被測(cè)物尺寸：直徑3nm                                 直徑3nm

重復(fù)性：

±0.2% （380nm-450nm）

±0.05% (450nm-800nm)

±0.2% (800nm-1100nm)

其它：可自定儀打印報(bào)告格式，自動(dòng)判定合格與不合格，適用于批量檢測(cè)