P-III的表面粒子檢測器系列通過以下技術實現(xiàn)電子半導體行業(yè)表面污染的量化監(jiān)測和控制：

核心技術原理

界面顆粒再懸浮技術?：采用界面技術，通過物理或氣流方式將附著在關鍵

表面的顆粒重新懸浮，便于后續(xù)檢測。

高精度光學檢測：基于激光光學傳感器和光散射原理，實時捕獲懸浮粒子的散

射光信號，實現(xiàn)單個粒子尺寸的精確分析。

關鍵性能指標

分辨率達0.1微米，支持納米級顆粒檢測；

配備靜態(tài)采樣模式，提升測量精度和穩(wěn)定性；符合ISO-14644-9表面粒子控制標準，

滿足半導體制造中對潔凈度的嚴苛要求

行業(yè)應用優(yōu)勢

減少50%以上的自凈時間及顆粒數(shù)，縮短PM周期，提升制造效率；

通過實時監(jiān)測表面污染，降低因顆粒導致的良率損失和可靠性風險；

適用于晶圓、光學元件、精密電路板等對潔凈度敏感的生產(chǎn)環(huán)節(jié)。

系統(tǒng)集成設計

支持USB數(shù)據(jù)導出和軟件升級，便于與工廠智能管理系統(tǒng)對接；

采用雙電池熱插拔設計，適應連續(xù)生產(chǎn)環(huán)境的需求。

該系列設備通過量化表面污染數(shù)據(jù)，為半導體制造中的過程控制提供標準化依據(jù)，從而優(yōu)化生產(chǎn)良率和產(chǎn)品可靠性。

傳感器：第七代雙激光窄光檢測器，壽命>200000次

產(chǎn)品特點

智能化設計與操作體驗

7英寸高分辨率觸控屏：支持實時數(shù)據(jù)可視化與交互操作，簡化流程。

雙電池熱插拔系統(tǒng)?：支持連續(xù)生產(chǎn)場景下的不間斷作業(yè)，電池更換無需停機。

USB數(shù)據(jù)接口與軟件升級?：便捷導出檢測報告，并可通過固件更新持續(xù)優(yōu)化性能。

提升制造效率

減少50%自凈時間?：通過量化表面污染數(shù)據(jù)，縮短設備維護周期（PM周期），提升產(chǎn)線吞吐量。

延長MTBC：結合顆?？刂撇呗裕P鍵設備可靠性提升4倍以上。

覆蓋高潔凈場景

半導體制造：晶圓表面、機臺內(nèi)腔等關鍵區(qū)域的潔凈度驗證。

精密光學與電子：液晶面板、光學鏡片組件、醫(yī)療器械的表面污染控制。

符合國際標準

產(chǎn)品嚴格遵循ISO-14644-9表面粒子控制規(guī)范，為半導體廠商提供標準化檢測工具。

測量粒徑:

A 0.3um、2.5um、10um;                            B 0.3um、(0.5/1.0/2.5/5.0）um、10um;

C0.3um、0.5um、1.0um、2.5um、5.0m、10um;         D 0.5um、1.0um、1.5um、2.0um、2.5um、3.0um;

E0,5um、1.0um、3.0um、5.0um、10.0um、25.0um;     F 0.1μm,0.2μm,0.3μm,0.5μm,1.0μm,5.0μm;

1、粒徑分布誤差：≤±30%

2、濃度示值誤差：≤±30%

3、重復相對偏差：≤±10%FS

4、重疊誤差：≤5%

5、氣體檢測：可測氣體濃度（可選配）

6、溫度范圍：-40 ～ 120℃

7、檢定標準：ISO14644-1或 JJF1190

8、氣泵流速：2.83L/min，28.3L/min（可選）；

9、采樣時間：3、6、9、12、15、30、60秒（可選）；

10、檢測模式：數(shù)量模式；質量模式； 凈效模式；

11、檢測方式：定時檢測、循環(huán)檢測可設置    

12、報警方式：自定義數(shù)量報警值、質量報警值

13、限值報警：RS485信號報警或外接聲光報警器

14、法 規(guī) 性：權限管控、審計追蹤、電子記錄等

15、合 規(guī) 性：符合ISO 21501-4，JIS B9921

16、通訊接口：RS232、R485、LAN-USB

17、存儲模式：實時、定時存儲可設置；無限制

18、打印模式：可選配微型打印機打印數(shù)據(jù)

19、工作條件：5 ～ 45℃、≤90%RH，無冷凝

20、工作電源：AC 100-240V, 50 Hz/60 Hz