·一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器 代碼后向兼容吉時(shí)利2600系列數(shù)字源表便于更換 TSP Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試 精密定時(shí)和信道同步（<500ns）
·接觸檢測(cè)功能確保了高速及準(zhǔn)確的測(cè)量
·KEITHLEY2612A數(shù)字源表具備20,000讀數(shù)/秒提供更快的測(cè)試時(shí)間和能力，捕捉器件瞬態(tài)性能
·內(nèi)置的測(cè)試腳本處理器(TSP)提供非并行系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試，將I-V測(cè)試的速度提高到同類產(chǎn) 品的二到四倍
·吉時(shí)利2600A系列提供寬動(dòng)態(tài)范圍：1fA到10A，1μV到200V
·TSP-Link主/從控制架構(gòu)將多臺(tái)2600A數(shù)字源表無(wú)縫地整合成一個(gè)系統(tǒng)，將其作為獨(dú)立的儀器進(jìn)行編程和控制,TSP-Link總線支持每GPIB或IP地址多達(dá)32單元/64通道的通道擴(kuò)展
·USB端口用于保存數(shù)據(jù)和測(cè)試腳本
·免費(fèi)的LabTracerTM2.0 軟件，無(wú)需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線，易學(xué)易用
·LXI Class C兼容性提供高速數(shù)據(jù)傳輸并且實(shí)現(xiàn)快捷地遠(yuǎn)程測(cè)試、監(jiān)控和排錯(cuò)
·業(yè)界zui高的SMU機(jī)架密度特別適合自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用

吉時(shí)利2612A數(shù)字源表給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、極ju性價(jià)比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試。基于初吉時(shí)利2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù)，吉時(shí)利2600A系列儀器在I-V測(cè)試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測(cè)試速度。它們還具備更高的源測(cè)量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。吉時(shí)利2600A系列數(shù)字源表是吉時(shí)利的I-V源-測(cè)量?jī)x器，既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用，吉時(shí)利2600A系列提供一款嵌入式TSP Express測(cè)試軟件，允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試，無(wú)需編程或安裝軟件。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，吉時(shí)利2600A數(shù)字源表的TSP架構(gòu)和新增功能，例如，并行測(cè)試能力和精密時(shí)鐘同步，提供了業(yè)界zui高吞吐量，從而降低了測(cè)試成本。

KEITHLEY2600A系列數(shù)字源表以性能的擴(kuò)展替代受歡迎的KEITHLEY2600系列數(shù)字源表。因?yàn)镵EITHLEY2600A系列提供后向代碼兼容至KEITHLEY2600系列，所以客戶能用KEITHLEY2600A系列簡(jiǎn)易替換KEIHTLEY2600系列。

KEITHLEY2612A數(shù)字源表 相關(guān)應(yīng)用:
對(duì)多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測(cè)試和特性分析，包括：
·分立的和無(wú)源的元器件
·雙引腳 - 電阻、盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
·三引腳 - 雙極型小信號(hào)晶體管(BJT)場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)等
·并行測(cè)試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
·簡(jiǎn)單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動(dòng)器、開(kāi)關(guān)、傳感器
·集成的器件－小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)
·模擬IC
·射頻集成電路(RFIC)
·應(yīng)用定制的集成電路
·系統(tǒng)級(jí)芯片(SOC)器件
·光電器件如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器
·上述器件的研發(fā)和特性分析