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TriStar II Plus 比表面及孔徑測試儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司
  • 品牌 micromeritics/麥克默瑞提克
  • 型號 TriStar II Plus
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/4/22 9:44:54
  • 訪問次數(shù) 1273

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Micromeritics® 儀器公司是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學(xué)活性和流動性的全球高性能設(shè)備生產(chǎn)商。我們能夠提供一系列行業(yè)前沿的技術(shù),包括比重密度法、吸附、動態(tài)化學(xué)吸附、壓汞技術(shù)、粉末流變技術(shù)、催化劑活性檢測和粒徑測定。


公司成立于 1962 年,總部位于美國佐治亞洲諾克羅斯,公司在美國、英國和西班牙均設(shè)立了研發(fā)和生產(chǎn)基地,并在美洲、歐洲和亞洲設(shè)有直銷和服務(wù)業(yè)務(wù)。Micromeritics 的產(chǎn)品是全球具有創(chuàng)新力的企業(yè)、政府和學(xué)術(shù)機構(gòu)旗下 10,000 多個實驗室的優(yōu)選儀器。我們擁有專業(yè)的科學(xué)家隊伍和響應(yīng)迅速的支持團(tuán)隊,他們能夠?qū)?Micromeritics 技術(shù)應(yīng)用于各種要求嚴(yán)苛的應(yīng)用中,助力客戶取得成功。


Micromeritics® 儀器公司于 2024 年正式加入全球材料表征領(lǐng)域的專家——馬爾文帕納科(Malvern Panalytical),與 SciAps 共同成為其中一員。


馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)儀器可用于分析材料的化學(xué)、物理和結(jié)構(gòu)性質(zhì),從蛋白質(zhì)到聚合物,從半導(dǎo)體到礦物。其分析技術(shù)可測量顆粒粒徑、顆粒形狀、顆粒濃度和 Zeta 電位、生物分子相互作用和穩(wěn)定性、元素含量和物質(zhì)結(jié)構(gòu)。馬爾文帕納科始終堅持以客戶為中心,在北美、歐洲和亞洲設(shè)有研發(fā)和制造基地。業(yè)務(wù)遍及全球,在全球 20 個國家設(shè)有銷售和服務(wù)機構(gòu),致力于為客戶提供快速且專業(yè)的客戶支持。


馬爾文帕納科隸屬于英國思百吉集團(tuán)(Spectris)。精確是我們工作的核心——通過高科技儀器和測試設(shè)備以及功能強大的軟件為全球客戶提供專業(yè)的洞察力。思百吉致力于利用精密測量的力量,為我們的客戶改善流程、質(zhì)量和產(chǎn)量,縮短上市時間,助力創(chuàng)造更清潔、更健康、更高效且可持續(xù)的世界。


SciAps 專注于便攜式分析儀,包含X射線熒光(XRF)、激光(LIBS)和近紅外(NIR)等分析技術(shù),是公司手持式儀器業(yè)務(wù)的核心,可滿足隨時隨地分析各類元素的需求。


Malvern Panalytical、Micromeritics和SciAps ——您在探索中的合作伙伴。

物理/化學(xué)吸附儀、比表面積及孔隙度分析儀、程序升溫化學(xué)吸附分析儀、靜態(tài)化學(xué)吸附儀、程序升溫高壓化學(xué)吸附儀、超高壓容量法等溫吸附儀、中高壓容量法物理吸附儀、重量法動態(tài)蒸汽吸附儀、全自動壓汞儀、各種密度分析儀、催化研究微型反應(yīng)器、磁性分析儀、固體表面能分析儀、粉體混合物分離度實驗儀、沉降粒度分析儀、激光粒度儀、動態(tài)光散射納米粒度儀、電阻法顆粒計數(shù)與粒度分析儀、全自動粒度粒形分析儀、亞篩分粒度儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
儀器種類 比表面及孔徑分析儀 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,石油,能源,建材/家具

TriStar II Plus比表面及孔徑測試儀

多用途/多通道/占地面積小

TriStar II Plus是全自動化且含三個分析站的比表面積和孔隙度分析儀,具有出色的性能和分析速度。TriStar II Plus為用戶提供高通量和高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。*的耐腐蝕的不銹鋼歧管,可確保結(jié)果可靠且可重復(fù)。

硬件和軟件特點

· 耐腐蝕的不銹鋼歧管,設(shè)計用于高精度的氣體管理

· 改進(jìn)的杜瓦瓶設(shè)計,提供超出40h的連續(xù)溫度控制

· 直觀的MicroActive軟件使用戶能夠用交互方式分析等溫線數(shù)據(jù),更快地獲得比表面與孔徑數(shù)據(jù)

· 用戶自定義報告選項允許直接建模

· 強大的Python腳本語言,允許用戶開發(fā)TriStar II Plus軟件標(biāo)準(zhǔn)報告庫擴展程序

· 創(chuàng)新的儀器顯示屏,方便的儀器性能指標(biāo)和維護(hù)信息實時顯示功能

· 能夠在碳微孔分析中同時利用CO2與N2兩個等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑

數(shù)據(jù)處理的優(yōu)勢

·直接處理吸附數(shù)據(jù)。通過簡單的移動計算條,用戶立即更新文本屬性。一鍵式訪問重要的參數(shù),讓用戶專注于結(jié)果,而不是參數(shù)

·交互式數(shù)據(jù)處理大限度地減少使用對話框和達(dá)到計算參數(shù)的路徑。這使用戶準(zhǔn)確和有效地確定材料的比表面積和孔隙度

·更強的能包含壓汞數(shù)據(jù)的文件添加疊加刪除功能(多25個)

·用戶可選數(shù)據(jù)范圍,通過圖形化界面允許直接建BET、 t-plot,Langmuir、 DFT理論等模型

·報告選項編輯,允許用戶自定義多達(dá)五份報告,可在屏幕上預(yù)覽

·每個報表都有總結(jié)、表格和圖形信息項

低比表面積測量選項

氪氣選件可以將比表面積測量范圍擴展至0.001m2/g。

TriStar II Plus比表面及孔徑測試儀表格和圖表報告:

·單點或多點BET 比表面積

·總孔體積

·Langmuir 比表面和等溫線

·t-Plot

·Harkins和Jura厚度層公式

·Halsey厚度層公式

·碳黑STSA

·Broekhoff-de Boer

·Kruk-Jaroniec-Sayari

·BJH 吸附/脫附曲線

·標(biāo)準(zhǔn)

·Kruk-Jaroniec-Sayari校正

·Dollimore-Heal吸附/脫附曲線

·中孔

·孔體積和面積分布

·MP-方法

·HK

·Saito-Foley

·Chang-Yang

·DFT孔徑

·DFT表面能

·總結(jié)報告

·SPC報告

·確認(rèn)報告



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