日立SFT9455X射線熒光鍍層測厚儀概述：

   SFT9000系列里很好的機(jī)型“SFT9455”，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗(yàn)裝置(半導(dǎo)體檢驗(yàn)裝置十比

   例計(jì)數(shù)管)。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測定要求的高性能膜

   厚測量儀器。而且 “SFT9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎(chǔ)上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。

日立SFT9455 X射線熒光鍍層測厚儀?主要特點(diǎn)：

   搭載雙向分離工檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計(jì)數(shù)管）：搭載在X射線能量分辨率上，半導(dǎo)體檢測器

   （起作用液化氮）和計(jì)數(shù)率的比例計(jì)數(shù)管，能夠根據(jù)運(yùn)用需要對應(yīng)使用。特點(diǎn)是半導(dǎo)體檢測器，能夠

   區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點(diǎn)：

 1.能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進(jìn)行測定。

 2.對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進(jìn)行高精度的Au鍍膜厚度測定。　　　

 3.能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。

 4.薄膜FP軟件：對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運(yùn)用領(lǐng)域。

 5.適用測定極微小部分,15μmΦ的準(zhǔn)直管為標(biāo)準(zhǔn)裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。　　

 6.搭載75W高性能X射線管。

 7.容易對微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。

 8.能夠測定大型打印基板的大型平臺。

 9.依據(jù)照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。

10.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。

11.利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動平臺。

12.正確的對焦,利用激光能夠正確得對焦測試樣品。

13.報(bào)告制作軟件,運(yùn)用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數(shù)據(jù)制作成書面材料。?