波長色散掃描型X射線熒光光譜儀特點(diǎn)之一,  雄厚的技術(shù)背景
 特點(diǎn)之二, 的分辨率( 與能量色散儀器比較)
 特點(diǎn)之三, 的分辨率（與高檔昂貴進(jìn)口的波長色散儀器比較）
 特點(diǎn)之四, 操作簡便、維護(hù)成本低，儀器輕便
 特點(diǎn)之五, 無標(biāo)樣分析軟件FPM
 特點(diǎn)之六,  能分析粉末和水溶液 
 特點(diǎn)之七,  的技術(shù)指標(biāo)
 特點(diǎn)之八,中國成功應(yīng)用案例 
 石油中測硫方法和配套儀器                              
 ASTM D 2622-98, ASTM D 7039-04    波長色散型X射線熒光譜法 (WDX） 3ppm<  HIGHSKY 1800
  ISO 20847-2004                    能量色散型X射線熒光譜法 (EDX）   30ppm< HIGHSKY EDX-SL 
  
波長色散掃描型X射線熒光光譜儀主要特點(diǎn)                             
 實(shí)際定量檢測下線為3ppm，很輕松的滿足zei嚴(yán)格的波長色散的標(biāo)準(zhǔn)ASTM D 2622-98
 例：10ppm 標(biāo)樣，平行測量20次，標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.68ppm，      兩次平行測量zei大相差為1.6ppm，ASTM D 2622-98在10ppm含量時(shí)要求5ppm 
  HIGHSKY1200    (1200型光譜儀價(jià)格實(shí)惠，但是僅檢測從 20Ca 到      92U 元素.為了滿足錢少的客戶在1200型儀器基礎(chǔ)上加了兩個(gè)能量色散通道，用戶可    以任選兩中輕元素，*于下列元素：Mg, Al, Si, P, S, Cl, K。
 一般選用S 和 Cl或者 S和P. 計(jì)量特性見下表：
 
 &#61557; X-射線熒光光譜儀的研制和基本參數(shù)法的理論研究工作開始于70-年代末80-年代初
 &#61557; 該工作由俄羅斯*的大學(xué)和國家研究所進(jìn)行。但是主要?jiǎng)?chuàng)始人被認(rèn)為是克利門特&bull;阿尼索維奇博士。
 &#61557; 經(jīng)過多年的艱苦的探索，克利門特&bull;阿尼索維奇博士發(fā)明了高效X-射線光學(xué)系統(tǒng)并獲得了相應(yīng)。該系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)在很大的程度上超過當(dāng)今的X-射線光學(xué)系統(tǒng)。因此歷史*使用低功率X-射線管，不用真空的小型X-射線熒光光譜儀在分析性能上能代替大型昂貴的儀器。
 &#61557; 10年多來，產(chǎn)品在不斷的更新。配套軟件不斷地更新。