供應(yīng)美國(guó)泰克TEKTRONIX 370A晶體管測(cè)試儀

TEK370A晶體管測(cè)試儀的詳細(xì)介紹：
帶寬：500MHz 
通道數(shù)：4ch 
同步采樣率/通道：1  GSa/s 
單通道采樣率：2GSa/s 
記錄長(zhǎng)度：50000ptc 
小垂直靈敏度：1  mV/div 
垂直靈敏度：10  V/div 
上升時(shí)間：700  ps 
位數(shù)：8  bits 
輸入阻抗：1  Mohm 
輸入耦合：AC,DC,GND 
輸入電壓：400  Vrms 
***主時(shí)基：500  ps/div 
主時(shí)基：10  s/div 
時(shí)基精度：0.0025  % 
觸發(fā)源：外置，內(nèi)置 
觸發(fā)模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single 
顯示類型：Color  LCD 
顯示尺寸：17.78  cm 
程控特性/接口特性 
接口：Centronics,GPIB,RS232 
程控語(yǔ)言：Windows 

供應(yīng)美國(guó)泰克TEKTRONIX 370A晶體管測(cè)試儀

主要參數(shù)：·半導(dǎo)體器件高精度測(cè)量
-上限達(dá)2000V或電流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的測(cè)量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測(cè)量分辨率（370A）
·波形對(duì)比
·包絡(luò)顯示
·波形平均
·點(diǎn)光標(biāo)（370A）
·Kelvin傳感測(cè)量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤(pán)，方便設(shè)置參孝存儲(chǔ)和調(diào)用

應(yīng)用
    手動(dòng)或自動(dòng)進(jìn)行半導(dǎo)體高分辨率DC參數(shù)測(cè)量
    來(lái)料檢查V
    生產(chǎn)測(cè)試
    過(guò)程監(jiān)視及質(zhì)量控制
    數(shù)據(jù)報(bào)告的生成
    元件配對(duì)
    失效分析
    工程測(cè)試
    交互式程控
    所有交互式程控測(cè)量是通過(guò)有鮮明特點(diǎn)的前面板或GPIB來(lái)完成的。使用幾種存儲(chǔ)方式，調(diào)整和存儲(chǔ)操作參數(shù)，包括370A的非
    易失存儲(chǔ)器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤(pán)或到外部控制器。
    測(cè)試夾具
    測(cè)試夾具是標(biāo)準(zhǔn)附件，它提供被測(cè)器件安全防護(hù)，以保護(hù)測(cè)量人員的安全。測(cè)試夾具適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的A1001，中間通過(guò)Kelvin傳
    感的A1005適配器、無(wú)Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。
    370A程控特性曲線圖示儀
    370A是***的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場(chǎng)合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管
    、光電元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測(cè)試。
    在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，用370A來(lái)完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報(bào)告這些具體的測(cè)試工作
    在制造過(guò)程中，用370A檢驗(yàn)器件質(zhì)量及過(guò)程監(jiān)視。