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FPOST-IMOS 納米干涉形貌儀
- 公司名稱 孚光精儀(中國)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FPOST-IMOS
- 產(chǎn)地 https://www.felles.cn/xingmaoyi/imos.html
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/8/27 14:36:56
- 訪問次數(shù) 566
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件 |
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納米干涉形貌儀nanoprofilometer是采用微納干涉顯微鏡部分相干光的干涉技術(shù)制造的納米輪廓儀和納米形貌儀,可定量測量微米尺度和納米尺度表面形貌輪廓,并且?guī)酌腌娔軌虿杉?百萬數(shù)據(jù)點(diǎn)。
納米干涉形貌儀采用部分相干光干涉技術(shù),具有亞納米精度,比傳統(tǒng)形貌儀*為精密。
納米干涉形貌儀提供了功能強(qiáng)大的非接觸式光學(xué)表面形貌測試工具,可測量各種類型表面,包括光滑的,粗糙的,平整的,臺階表面和傾斜表面等。微納表面形貌測試無損,快速并且不需要制樣。
納米干涉形貌儀可提供平整度,粗糙度,波紋度和臺階高度。
圖1:納米干涉形貌儀nanoprofilometer實(shí)物圖
納米干涉形貌儀nanoprofilometer主要*點(diǎn):
Z軸分辨率:~30pm(原子smoth mirror,nanorelief模式)
~0,3um (microrelief模式)
相應(yīng)快速
具有一定的隔振能力
測量過程自動化程度高
用戶自定義界面
高質(zhì)量軟件界面良*展示3D測量結(jié)果
不同測量形貌可選配不同的顯微鏡種類
具有nanorelief模式和microrelief模式
三坐標(biāo)定位樣品
軟件具有cross-linking功能,可測量大面積樣品
du特的軟件功能存儲和系統(tǒng)化測量結(jié)果
圖2:納米干涉形貌儀應(yīng)用-Si襯底上Pd膜厚度,100nm膜層高度(Nanorelief模式)
圖3:納米干涉形貌儀應(yīng)用-Si晶體表面臺階高度,0.314nm高(Nanorelief模式)
圖4:納米干涉形貌儀應(yīng)用-溝槽測量,101 nm ± 3%(Nanorelief模式)
圖5:納米干涉形貌儀應(yīng)用-溝槽深度,40 ± 1.2μm (Microrelief模式)
圖6:納米干涉形貌儀應(yīng)用-衍射器件臺階高度測量,高度3.7μm (Microrelief模式)
納米干涉形貌儀規(guī)格配置
光電探測器:1392x1040像素CCD
光源:630nm LED
微物鏡:20X(或者選配10X和5X)
掃描裝置:壓電陶瓷掃描器件
位移臺:Z軸行程50mm, XY行程75x50mm
控制器:包括位移臺控制和整套控制器
軟件:包含
納米干涉形貌儀規(guī)格參數(shù)
測量面積:0.4mm x 0.3mm (20X物鏡)
像素尺寸:0.3μm(20X物鏡)
橫向分辨率:等于或*于1μm
測量模式:Microrelief模式和Nanorelief模式
高度分辨率:~0.3μm(Microrelief模式)
~30pm (Nanorelief模式,帶有自動smoth mirror下)
高度測量范圍:***高50mm(Microrelief模式)
***高20um (Nanorelief模式,帶有自動smoth mirror下)
測量速度: ~4μm/s(Microrelief模式)
~20μm/10s (Nanorelief模式,帶有自動smoth mirror下)