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安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2024/1/27 21:59:59
  • 訪問次數(shù) 1786

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深圳市新瑪科技有限公司致力于電子測試測量領(lǐng)域?yàn)榭蛻籼峁┑臏y試和高效的解決方案和全面的系統(tǒng)服務(wù),提供通用測試產(chǎn)品,示波器、邏輯分析儀、信號(hào)源、交流、直流電源、數(shù)據(jù)采集器、交流、直流電子負(fù)載儀和頻譜分析儀、安規(guī)測試、 電能質(zhì)量分析儀以及數(shù)字萬用表、功率分析儀、熱成像儀、絕緣電阻測試儀。包括全套電磁兼容EMC測試和EMC整改的解決方案,專業(yè)提供電磁兼容測試系統(tǒng),電磁干擾EMI抗干擾EMS診斷系統(tǒng),并提供專家級(jí)的技術(shù)和咨詢服務(wù)。為各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域提供創(chuàng)新服務(wù)模式涵蓋測試儀器銷售、 計(jì)量校準(zhǔn)、維修維護(hù)以及面向企業(yè)級(jí)客戶端的系統(tǒng)集成服務(wù),產(chǎn)品覆蓋通信、工業(yè)電子制造、新能源、微電子、 航空航天,科研院所大學(xué)等行業(yè), 我們嚴(yán)格遵循以合格的產(chǎn)品去服務(wù)于客戶,幫助客戶選擇適合的解決方案。

隨著中國市場越來越多的進(jìn)口設(shè)備進(jìn)入中國在中國每年有數(shù)量眾多的技術(shù)*,價(jià)格昂貴的設(shè)備因?yàn)闆]有合理的配備而閑置,對(duì)于每一個(gè)面對(duì)競爭的企業(yè)來說,這種浪費(fèi)是致命的,我們認(rèn)為我們必須了解客戶的需求,將行業(yè)內(nèi)眾多成熟的方案幫助中小型技術(shù)企業(yè)客戶實(shí)現(xiàn)合理的配置同時(shí)提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性,并降低產(chǎn)品開發(fā)成本和生產(chǎn)成本。

新瑪通過與Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等廠商的合作,為客戶提供產(chǎn)品應(yīng)用解決方案、計(jì)量校準(zhǔn)、維修維護(hù)和科技資產(chǎn)外包管理等綜合服務(wù)。
      新瑪通過與業(yè)務(wù)伙伴的緊密合作,憑借便捷的進(jìn)貨渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),為客戶提供專業(yè)的產(chǎn)品選型、技術(shù)支持、現(xiàn)場測試等快捷的本地化服務(wù),成為電子測試領(lǐng)域的綜合服務(wù)商。


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應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀

 橢偏振動(dòng)光譜

利用紅外光譜中分子振動(dòng)模的吸收帶,可以分析薄膜的組成。此外,載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

傅立葉紅外光譜儀FTIR*適用

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號(hào)FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動(dòng)光譜。

 

光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度,折射率,消光系數(shù)以及體材料,單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的,現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時(shí)可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計(jì)的。緊湊型測量臺(tái)包括橢圓儀光學(xué)部件,計(jì)算機(jī)控制角度計(jì),水平樣品臺(tái),自動(dòng)準(zhǔn)直透鏡,商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400 cm-1 ~6,000 cm-1 (1.7 µm – 25 µm)光譜范圍內(nèi)提供了*的精度和分辨率。

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動(dòng)光譜分析。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作,另外還提供了FTIR軟件。

Hydrogen concentration in a-Si films of thin film solar cellsOptical constants of PV glassDiffusion profile for epi-siliconPurged IR-beamlineP-diffusion profiles in c-Si silicon solar cells

 



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