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Thick800A 鍍層測厚儀價格

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 深圳市天瑞儀器有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 Thick800A
  • 產(chǎn)地 江蘇昆山
  • 廠商性質 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/7/30 20:56:11
  • 訪問次數(shù) 1492

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江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及售后服務為一體的光譜儀、色譜儀、質譜儀以及實驗室耗材的生產(chǎn)商。

我們奉行客戶至上,服務*的宗旨,公司在全國各省地區(qū)開設有多家分公司和辦事處,便于快速及時的為全國各地的客戶服務。主要經(jīng)營:歐盟環(huán)保RoHS檢測儀、RoHS2.0檢測儀、鹵素測試儀、鍍層測厚儀、合金元素分析儀、金屬成份分析儀、VOC環(huán)境監(jiān)測系統(tǒng)、大氣在線監(jiān)測儀、REACH檢測儀、鄰苯二甲酸檢測儀、有機化合物分析儀等。為電子、電器、五金、塑膠、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、石油、化工、醫(yī)藥等眾多行業(yè)提供更為完善的行業(yè)整體解決方案,為您企業(yè)的發(fā)展之路保駕護航!

主要產(chǎn)品和服務: RoHS檢測儀器系列EDXRF、鍍層厚度測試儀系列XRF、環(huán)保無鹵測試儀系列XRF、成份分析儀系列XRF、氣相色譜質譜聯(lián)用儀GC-MS、液相色譜質譜聯(lián)用儀LC-MS、原子吸收光譜儀系列AAS、電感耦合等離子體光譜儀系列ICP、火花直讀光譜儀OES、高頻紅外碳硫分析儀CS、環(huán)保檢測儀,玩具檢測儀,增塑劑專用儀,液相色譜儀LC,X射線熒光光譜儀、VOC在線分析儀、TVOC(總烴)在線分析儀、有機化合物檢測儀等。其中專門為歐盟ROHS指令、玩具指令、包裝指令以及鹵素分析等環(huán)保指令設計的X射線熒光光譜儀遍及全國幾千家企業(yè)。我們?yōu)榭蛻裘赓M提供RoHS2.0方案,鹵素方案,玩具安全方案、REACH方案等

公司擁有完整、科學的質量管理體系,嚴把質量關,技術精益求精,服務及時周到,是用戶信得過的好伙伴。天瑞儀器以誠信、實力和產(chǎn)品質量獲得業(yè)界的認可,并在產(chǎn)品質量和技術上曾多次獲獎。歡迎各界朋友蒞臨參觀、指導和業(yè)務洽談!

天瑞ROHS檢測儀,ROHS2.0分析儀,XRF檢測設備,領苯檢測儀,ROHS10項檢測儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 10萬-20萬
應用領域 建材/家具,電子/電池

五金鍍層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
    鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
  鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

鍍層測厚儀價格影響因素
    1.影響因素的有關說明
    a 基體金屬磁性質
    磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
    b 基體金屬電性質
    基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
    c 基體金屬厚度
    每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
    d 邊緣效應
    本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉角處進行測量是不可靠的。
    e 曲率
    試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
    f 試件的變形
    測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
    g 表面粗糙度
    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點。
    g 磁場
    周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場,會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
    h 附著物質
    本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感,因此,必須清除附著物質,以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
    i 測頭壓力
    測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
    j 測頭的取向
    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應當使測頭與試樣表面保持垂直。
    2.使用儀器時應當遵守的規(guī)定
    a 基體金屬特性
    對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
    對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
    b 基體金屬厚度
    檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
    c 邊緣效應
    不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉角等處進行測量。
    d 曲率
    不應在試件的彎曲表面上測量。
    e 讀數(shù)次數(shù)
    通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量,表面粗造時更應如此。
    f 表面清潔度
    測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質

鍍層測厚儀價格是江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷售,以“行業(yè)技術”的姿態(tài),不斷探究世界分析領域的。目前公司已于2011年成功在深圳創(chuàng)業(yè)板上市,股票代碼300165。
測厚儀可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統(tǒng),以實現(xiàn)對板帶厚度的自動厚度控制(AGC)。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側。設計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯后調整時間。



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