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光學元件面型測量儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
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面型測量儀測量儀

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先鋒科技是國內(nèi)的光電產(chǎn)品系統(tǒng)集成商之一,總部位于香港。目前擁有員工30余人,銷售工程師及技術(shù)服務(wù)工程師全部具有相關(guān)專業(yè)的大學本科及以上學歷。憑借在光電領(lǐng)域前沿的不斷探索,公司不僅為用戶提供國外原廠生產(chǎn)的各類標準產(chǎn)品,而且致力于根據(jù)用戶的具體要求,提供完整的系統(tǒng)解決方案,包括設(shè)計、生產(chǎn)、集成和二次開發(fā)等。

公司一直持續(xù)關(guān)注光電類前沿的技術(shù)產(chǎn)品,從初期只與有限幾個品牌有業(yè)務(wù)關(guān)系,發(fā)展到現(xiàn)在與幾十家歐美公司長期密切合作。公司提供的產(chǎn)品,其涵蓋面也從初的光譜儀器單一類別,發(fā)展到現(xiàn)在的成像產(chǎn)品、各種激光器、激光測試、太赫茲、光度色度測試、光電元器件、光學元件、精密光學機械運動控制等幾乎所有光電行業(yè)產(chǎn)品系列。公司實行不同產(chǎn)品系列團隊負責制,力爭將銷售和技術(shù)崗位的工程師都培養(yǎng)成為各自負責產(chǎn)品類別的人才,實實在在地讓客戶體會到專業(yè)團隊的專業(yè)服務(wù)!

公司擁有一支具備專業(yè)知識的銷售工程師團隊,并始終要求相關(guān)團隊成員,在銷售過程中從各個領(lǐng)域內(nèi)的用戶處時刻更新自己的知識內(nèi)容,保持對各應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)新研究內(nèi)容的了解,從而能夠結(jié)合儀器設(shè)備的技術(shù)特點,按照廣大用戶的不同應(yīng)用要求,提供準確、先進的各種儀器解決方案。

公司的技術(shù)服務(wù)工程師積累了豐富的儀器安裝、調(diào)試及故障解決經(jīng)驗,并不斷結(jié)合科研生產(chǎn)儀器設(shè)備的新技術(shù)發(fā)展及用戶的要求,努力完善售后服務(wù)體系,力爭做到在盡可能短的時間內(nèi)為用戶提供迅速有效的技術(shù)響應(yīng),使用戶的各種技術(shù)服務(wù)要求盡量得到滿足。針對主營產(chǎn)品和業(yè)務(wù),公司每年定期安排技術(shù)服務(wù)工程師參加各類技術(shù)培訓,購買相應(yīng)的零配件,力爭做到絕大部分的主流產(chǎn)品維修本地化,免除由于路程往返造成的時間、費用和工作效率上的損失。

公司商務(wù)部門的貿(mào)易專員,每年均要處理大量的貿(mào)易合同。公司商務(wù)團隊,以其豐富貿(mào)易經(jīng)驗,努力協(xié)調(diào)公司內(nèi)外以及公司內(nèi)部各部門的行動,力爭讓用戶在短的時間內(nèi)收到訂購的儀器,享受到相應(yīng)的服務(wù)。

全體員工努力工作的目標是:把公司建設(shè)成為一個光電行業(yè)系統(tǒng)集成業(yè)務(wù)市場中,先鋒科技衷心希望得到新老客戶一如既往的支持!

 

 

 

 

光譜相關(guān)產(chǎn)品,激光與測量系統(tǒng),影像采集,光度色度儀器,探測器產(chǎn)品,氣體傳感器,光學元件等光電產(chǎn)品

產(chǎn)地類別 進口 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶

Kaleo MultiWave 是一臺多波長工作的光學元件面形測試系統(tǒng),用于替代昂貴、低效、操作復(fù)雜的干涉儀,測量光學元件的表面面形、透過波差等參數(shù)。

Kaleo MultiWave 通過單次測量即可提供完整的3-D形貌及非平面元件的曲率。所有表面質(zhì)量參數(shù)尊崇ISO 10110標準。表面不規(guī)則,粗糙度以及波紋亦可測試。

Kaleo MultiWave*的多波長測試功能可以在光學元件設(shè)計的工作波長進行測試,從而對光學元件基底、鍍膜獲得完整的評價。儀器具備和傳統(tǒng)干涉儀同等的精度,同時具備更大的動態(tài)范圍以測試復(fù)雜面形的光學元件。測試以雙程模式工作,兼容透射與反射測量。

多波長干涉儀:

同一機臺,多個波長

標配:625nm - 780nm - 1050nm

可選:UV - 400nm - 1100nm - 短波紅外

高動態(tài)范圍:

> 20um PV

高度畸變波前測試

高精度:

精度與干涉儀同等

高重復(fù)度,低噪聲

高性價比的干涉儀解決方案

規(guī)范:

遵從ISO 5725 標準

兼容MetroPro 格式

兼容 ISO 10110 格式

用途:

表面面形測試

鍍膜(AR,介質(zhì)膜,金屬膜測試......

窗片,干涉濾光片測試

透鏡,非平面鏡測試

應(yīng)用:

光學元件研發(fā)制造

濾光片及窗片制造

空間及防務(wù)

汽車工業(yè)

激光器及其應(yīng)用

光學元件面型測量儀KALEO MultiWave技術(shù)指標:

光路結(jié)構(gòu)

雙通路

標準配置波長

625, 780, 1050nm

可選波長

400 - 1100nmUV, IR

有效口徑

130mm

可重復(fù)性 (ISO 5725)

< 5nm rms

可再造性 (ISO 5725)

<7nm rms

動態(tài)范圍 (失焦), RWE

10um PV

動態(tài)范圍 (失焦), TWE

200nm rms

精度 (RWE)

<80nm rms

精度 (TWE)

<20nm rms

 

光學元件面型測量儀KALEO MultiWave測試實例:

Fizeau干涉儀測試結(jié)果的比較

 

NBP-780濾光片測試。二者測量RWE的偏差小于40nm P-V

 

非球面鏡3-D面形

 單次測量,無需空白透鏡??赏ㄟ^扣除理想曲面得知面形殘余誤差,從而獲知非球面鏡的加工質(zhì)量。

產(chǎn)線設(shè)備監(jiān)控

 

通過對塑料、樹脂模壓光學元件的直接測試,實時獲知加工效果,對模具狀態(tài)、工件調(diào)整精度等作出實時評價。



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