北京四探針電阻率測試儀參考標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T3048電線電纜電性能試驗(yàn)方法第2部分：金屬材料電阻率試驗(yàn)

GB24525-2009 炭素材料電阻率測定方法

GB-T 19289-2003 電工鋼片(帶)的密度、電阻率和疊裝系數(shù)的測量方法

JB-T 6773-1993 金屬石墨制品   電阻率試驗(yàn)方法1

北京四探針電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)

電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
測量誤差±5%
測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 測量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm

顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

標(biāo)配：測試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

測量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為拓展量程，可定制）

電 阻：10.0×10-6  ～ 200.0×103 Ω, 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω

（1.0×10-6  ～ 20.00×103 Ω, 分辨率 0.1×10-6  ～ 0.01×103

Ω）

電 阻 率：10.0×10-6  ～ 200.0×103  Ω-cm 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω-cm

 1.0×10-6  ～ 20.00×103  Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103  Ω

方塊電阻：50.0×10-6  ～ 1.0×106  Ω/□ 分辨率 5.0×10-6  ～ 0.5×103 Ω/

5.0×10-6  ～ 100.0×103  Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω

四探針半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀是測定電池極片電導(dǎo)值的常用方法。這是因?yàn)樗狞c(diǎn)探針法消除了探針與樣品(壓縮片或涂層)之間的接觸電阻。然而，有兩點(diǎn)值得注意。首先，在大多數(shù)四探針方法中，電極材料的漿液在絕緣基板上涂上一薄層或適當(dāng)厚度，而不是像鋁箔這樣的集電極材料。在絕緣基板上涂敷這種涂層的目的是為了準(zhǔn)確地測試電極材料的電導(dǎo)率，避免向基板方向的支流。如果襯底電流收集器材料,即使分岔電流通過調(diào)整探頭的距離和其他方法,電流的方向平行轉(zhuǎn)移到涂料,忽略基體和涂層之間的區(qū)別,所以結(jié)果只能代表涂層的電阻。實(shí)際情況極片，但界面電阻。第二,電池的電極涂層在實(shí)際應(yīng)用相對(duì)較厚和四探針方法忽略了涂層梯度的磁極,只獲得涂層的電阻貢獻(xiàn)的一部分,不能*描述磁極的電阻值。由于銅箔、鋁箔和探頭的材料均為高導(dǎo)電性材料，所以集流器和探頭的體電阻只占很小的一部分。但測試過程中的電子傳導(dǎo)路徑與實(shí)際電池極片基本相同。總測試值包括各部分的電子傳導(dǎo)特性。可以快速研究工藝對(duì)極片電阻的影響，直接在生產(chǎn)線上完成試驗(yàn)。以粉末活性材料為例，連接粉末電阻測試系統(tǒng)和低電阻測試儀進(jìn)行測試。粉末電阻測試不是測試單個(gè)粉末顆粒，而是測試整個(gè)聚集的粉末樣品。粉末聚集在氣缸和活塞系統(tǒng)中，由連接到油泵的活塞增壓。當(dāng)壓力較小時(shí)，試樣密度相對(duì)較低，與粉末接觸較差，電導(dǎo)率較低，電阻率較高，但與強(qiáng)壓力相反。因此，需要特別注意的是，粉末樣品的電阻率/導(dǎo)電性會(huì)隨著壓力的增加而持續(xù)變化。濕度也會(huì)增加電導(dǎo)率，所以測試環(huán)境中的濕度也會(huì)影響測試。

四探針電阻率測試儀使用兩個(gè)位置測量，一個(gè)是直的，一個(gè)是方形的。單晶硅物理測試符合美國的a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)

雙電試驗(yàn)法

使用當(dāng)前探針和電壓探針的轉(zhuǎn)換進(jìn)行兩個(gè)電測量，并執(zhí)行數(shù)據(jù)的雙電測量和分析。

優(yōu)勢

它會(huì)自動(dòng)將樣本的幾何、邊界的影響、探針的等距離和機(jī)器的徘徊的影響排除在測量結(jié)果中。與4個(gè)直或方形探針的單一電測量相比，它提高了精度。

特別是傾斜的4個(gè)探針，非常適合測量微小區(qū)域。