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SYPT-2 玻璃平行平晶(千分尺建標(biāo)專用)
- 公司名稱 寧波申研量?jī)x檢測(cè)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) SYPT-2
- 產(chǎn)地 寧波申研量?jī)x
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/29 15:45:10
- 訪問次數(shù) 1823
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三等標(biāo)準(zhǔn)金屬線紋尺、鋼卷尺檢定臺(tái)、數(shù)顯型鋼卷尺檢定臺(tái)、鋼直尺檢定臺(tái)、標(biāo)準(zhǔn)鋼卷尺、鋼卷尺檢定裝置、測(cè)氫儀、氫儀探頭、玻璃檢測(cè)儀器
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材/家具,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
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測(cè)量面上平面度偏差: | <0.1μm | 平面度局部偏差: | >0.03μm |
測(cè)量面平行度誤差: | 允差值:0.06μm-0.1μm |
SYPT-2平行平晶(千分尺計(jì)量建標(biāo)專用)
一.產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
SYPT-2平行平晶(檢測(cè)千分尺計(jì)量建標(biāo)專用)是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。平行平晶用用于干涉法測(cè)量檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)使用,也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測(cè)。
二.功能特點(diǎn):
1.具有高精度的平面性和平行性。
2.采用A級(jí)光學(xué)玻璃,穩(wěn)定性好,無色透明。
3.壽命長(zhǎng)、不受環(huán)境溫度影響。
三.技術(shù)指標(biāo):
每組平行平晶共四塊,分四個(gè)尺寸系列組
測(cè)量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測(cè)量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
四.平行平晶規(guī)格分類:
平行平晶共分四個(gè)系列,每組四塊。
組Ⅰ | 平行平晶 | 0-25mm | 4塊/組 |
組Ⅱ | 平行平晶 | 25-50mm | 4塊/組 |
組Ⅲ | 平行平晶 | 50-75mm | 4塊/組 |
組Ⅳ | 平行平晶 | 75-100mm | 4塊/組 |
平行平晶尺寸系列表
組號(hào) | 0-25 | 25-50 | 50-75 | 75-100 |
1 | 15.00,15.12 | 40.00,40.12 | 65.00,65.12 | 90.00,90.12 |
2 | 15.12,15.25 | 40.12,40.25 | 65.12,65.25 | 90.12,90.25 |
3 | 15.25,15.37 | 40.25,40.37 | 65.25,65.37 | 90.25,90.37 |
4 | 15.37,15.50 | 40.37,40.50 | 65.37,65.50 | 90.37,90.50 |
5 | 15.50,15.62 | 40.50,40.62 | 65.50,65.62 | 90.50,90.62 |
6 | 15.62,15.75 | 40.62,40.75 | 65.62,65.75 | 90.62,90.75 |
五.工作原理:
平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測(cè)量平行度誤差的,故其測(cè)量方法稱為平晶干涉法(圖2),也稱技術(shù)光波干涉法。測(cè)量時(shí),把平晶放在被測(cè)表面上,且與被測(cè)表面形成一個(gè)很小的楔角 θ,以單色光源照射時(shí)會(huì)產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如入射光線垂直于被測(cè)表面,且平晶與被測(cè)表面間的間隙很小,則由平晶測(cè)量面P反射的光線與被測(cè)表面反射的光線在測(cè)量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下,則出現(xiàn)彩色干涉條紋。如干涉條紋平直,相互平行,且分布均勻,則表示被測(cè)表面的平面度很好;如干涉條紋彎曲,則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)
λ為光波波長(zhǎng),白光的平均波長(zhǎng)為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量,ω為干涉帶間距。
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