作為一種快速、準(zhǔn)無損的分析技術(shù)——XRF熒光光譜儀得到了廣泛的應(yīng)用。為了了解當(dāng)前XRF的使用范圍和新領(lǐng)域的增長潛力，我們請一些專家對于XRF的重要的應(yīng)用領(lǐng)域、以及面臨的挑戰(zhàn)、與其他技術(shù)的競爭優(yōu)勢等問題進(jìn)行了評論。

　　XRF在地質(zhì)相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用不斷在增長，“地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實驗室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家都使用XRF，”陶氏化學(xué)的研究科學(xué)家Lora Brehm指出。例如，使用便攜XRF系統(tǒng)配合井下采礦和能源勘探，以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描?！坝捎陔姼旭詈系入x子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品，以至于不適于現(xiàn)場分析，但XRF*可以，特別是小型化的儀器。”

　　芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling也表達(dá)了同樣的意見，“便攜性和現(xiàn)場易用性顯然是XRF的發(fā)展趨勢，”并稱XRF在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以應(yīng)用，而且該方法具有非常出色的穩(wěn)定性和易用性?！芭c質(zhì)譜(MS)方法相比，XRF有很多優(yōu)勢，其中主要的一點(diǎn)是不需要載氣和其他消耗品，”她說到?！靶枰攸c(diǎn)記住的一件事是，火星上有XRF，而沒有ICP-MS?！?/p>

　　華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen，從更廣泛的角度看待XRF與其他技術(shù)的競爭。他指出，XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素。“傳統(tǒng)XRF儀器吸引力的是在耐火材料分析等應(yīng)用中具有ppm級水平，”但是，她指出，對于ppb級的微量元素分析， ICP-OES是主力，只要樣品量不受限制、消解又很簡單。對于有限的樣本，微觀分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個更好的選擇。“對于ppt水平的檢測，需要ICP-MS，”她補(bǔ)充道。

　　幾個專家都提到了如鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過程中的應(yīng)用，“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高，波散XRF是必要的，”京都大學(xué)教授Jun Kawai說，“一臺有40塊晶體的XRF儀器能夠同時測量40個元素?！?/p>

　　XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用不只是用于質(zhì)量控制，CTL集團(tuán)的*科學(xué)家Don Broton指出。“物相鑒定和無標(biāo)分析的XRF增強(qiáng)了制造工廠迅速評估替代材料和配方的能力，以及不同制造過程的副產(chǎn)品，”他說?！案玫乇碚鬟@些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用，會加快帶來一個綠色的未來。”

XRF熒光光譜儀產(chǎn)品介紹：

性能特點(diǎn)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
移動平臺：精細(xì)的手動移動平臺，方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg