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IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 西安智盈電氣科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地 西安市灃東新城
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/8/16 10:28:46
  • 訪問次數(shù) 201

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西安智盈電氣科技有限公司,是一家專業(yè)從事功率半導(dǎo)體測試設(shè)備自主研發(fā)制造與綜合測試分析服務(wù)

坐落于陜西省西安市高新區(qū)。

核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件測試設(shè)備的研制生產(chǎn),公司產(chǎn)品主要有:

IGBT參數(shù)測試設(shè)備, MOSFET參數(shù)測試設(shè)備, 可控硅參數(shù)測試設(shè)備

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGSS / BVR / VDSSat / IDSS / VGSTH / VF / RDSon);動態(tài)參數(shù)(開通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū))測試(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);雪崩能力測試,老化及可靠性測試(HTRB / HTGB)。

IGBT參數(shù)測試設(shè)備:

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE);動態(tài)參數(shù)(開通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū))測試(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);老化及可靠性測試(HTRB / HTGB)。

二極管及可控硅/晶閘管(SCR)參數(shù)測試設(shè)備:

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL );動態(tài)參數(shù)測試(Turn_on&off / Qrr_FRD);浪涌參數(shù)測試ITSMdi/dt測試;老化及可靠性測試(高溫阻斷);熱阻參數(shù)測試Rth。

產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優(yōu)勢,將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計、制造、封裝廠商及高校研究所等。




IGBT測試儀,靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGSS / BVR / VDS(Sat) / IDSS / VGSTH / VF / RDS(on));動態(tài)參數(shù)(開通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū))測試(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg /

價格區(qū)間 50萬-80萬 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池
7KV 20000A

核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件測試設(shè)備的研制生產(chǎn),公司產(chǎn)品主要有:

MOSFET參數(shù)測試設(shè)備:

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGSS / BVR / VDSSat / IDSS / VGSTH / VF / RDSon);動態(tài)參數(shù)(開通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū))測試(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);雪崩能力測試,老化及可靠性測試(HTRB / HTGB)。

IGBT參數(shù)測試設(shè)備:

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE);動態(tài)參數(shù)(開通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū))測試(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);老化及可靠性測試(HTRB / HTGB)。

二極管及可控硅/晶閘管(SCR)參數(shù)測試設(shè)備:

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL );動態(tài)參數(shù)測試(Turn_on&off / Qrr_FRD);浪涌參數(shù)測試ITSMdi/dt測試;老化及可靠性測試(高溫阻斷);熱阻參數(shù)測試Rth。

產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優(yōu)勢,將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計、制造、封裝廠商及高校研究所等。







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