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TEM-STM樣品桿系列

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 安徽澤攸科技有限公司
  • 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
  • 型號
  • 產(chǎn)地 北京
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/5/8 13:37:48
  • 訪問次數(shù) 4791

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安徽澤攸科技有限公司,是一家具有獨立自主知識產(chǎn)權(quán)的先進裝備制造公司。

公司集研發(fā)、生產(chǎn)和銷售業(yè)務(wù)于一體,現(xiàn)有兩個系列核心產(chǎn)品:

PicoFemto 系列電子顯微鏡原位測量系統(tǒng)

ZEPTOOLS 系列臺式掃描電子顯微鏡

 

 

電子顯微鏡及電鏡附件

兼容性 適配Thermofisher/FEI、JEOL、Hitachi透射電鏡 功能 常溫拉伸
樣品桿傾轉(zhuǎn) 單傾

TEM-STM樣品桿系列

產(chǎn)品介紹

TEM-STM樣品桿系列

TEM-STM測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量。在進行原位操縱的同時利用透射電鏡及相關(guān)附件實時動態(tài)地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征,極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。


產(chǎn)品特色

1.電學(xué)測量指標

電流測量范圍: 1 nA - 30 mA,多個量程

電流分辨率: 優(yōu)于100 fA

電壓輸出范圍:普通模式 ± 10 V,高壓模式 ± 150 V

自動I-V測量、l-t 測量,自動保存

可外接第三方源表滿足多種實驗需求

包含一個電流電壓測試單元

2.掃描探針操縱指標

粗調(diào)范圍: XY 方向 2.5 mm,Z 方向1.5 mm

細調(diào)范圍: XY 方向15 μm,Z 方向1.5 μm

細調(diào)分辨率: XY 方向0.4 nm,Z 方向0.04 nm

粗細調(diào)均為軟件控制


拓展產(chǎn)品

基于TEM-STM測量系統(tǒng),研究人員還可選擇掃描探針與多種外場耦合的原位測量系統(tǒng):

AFM力電測量系統(tǒng)                       光電測量系統(tǒng)                           低溫電學(xué)測量系統(tǒng)

納牛級力學(xué)傳感器                        雙向光纖輸出                           液氮低溫制冷

力學(xué)曲線輸出                               光電流測量                              低溫下電學(xué)測量

力-電同時測量                             光譜分析                                  低溫下力學(xué)操縱


高溫電學(xué)測量系統(tǒng)                       高溫力學(xué)測量系統(tǒng)                     多場原位測量系統(tǒng)

芯片式加熱                                 芯片式加熱                               芯片式加熱/加電

熱-電耦合                                   熱-力耦合                                 集成雙向光纖

高溫下力學(xué)操縱                          力學(xué)曲線輸出                            熱-電-力-光多場耦合


應(yīng)用案例

PbTiO3/SrRuO3 界面處的三重極化                           電場作用下混合型疇結(jié)構(gòu)到單一型疇結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變

頂點的電場調(diào)控

TEM-STM樣品桿系列


部分產(chǎn)品精選

原位低溫TEM-STM測量系統(tǒng)、原位MST一體化測量系統(tǒng)、原位真空傳輸TEM-STM測量系統(tǒng)、

原位光學(xué)TEM-STM測量系統(tǒng)、原位雙傾TEM-STM測量系統(tǒng)


TEM-STM樣品桿系列


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