LQ-TS 芯片冷熱沖擊測試箱
參考價 | ¥ 80000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 東莞市柳沁檢測儀器有限公司
- 品牌 柳沁科技
- 型號 LQ-TS
- 產(chǎn)地 常平鎮(zhèn)橋瀝北門村工業(yè)區(qū)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/11/11 19:46:49
- 訪問次數(shù) 2232
聯(lián)系方式:陳經(jīng)理18028920280 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、紫外線老化試驗箱、氙燈老化試驗箱、快速升降溫試驗箱、淋雨試驗箱、砂塵試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高溫老化房、真空及無塵干燥試驗箱、鹽水噴霧試驗箱、跌落試驗機、電磁振動臺等各類環(huán)境儀器和力學試驗設備。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
---|---|---|---|
應用領域 | 能源,建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
芯片冷熱沖擊測試箱是一種模擬自然界溫度急 劇變化的試驗設備,通過它能測試產(chǎn)品在溫度快速變化的過程中所受到的物理和化學方面的損害,從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問題,進而對其改進優(yōu)化。
芯片冷熱沖擊測試箱主要用于電子電器零組件塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、兵工業(yè)、航天、BGA、PCB基扳、、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化進行試驗,可確認產(chǎn)品在環(huán)境中突變的性能。用來測試材料結構或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理變化。
性能參數(shù)參考如下:
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費配高溫至150度)。
二、溫度偏差:±2℃。
三、溫度波動度:±0.5℃。
四、溫度恢復時間:≤5min。
五、溫度恢復條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉移方式:采用氣動驅(qū)動。
七、高溫室儲溫的升溫時間:30min (+25℃~+200℃)。
八、低溫室儲溫的降溫時間:65min (+25℃~-75℃)。
九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音:(dB)≤65( 標準規(guī)定≤65分貝不算噪音)