利用光彈調(diào)制器技術，Hinds 公司的應力雙折射測量系統(tǒng)(殘余應力測量)可以在深紫外（193nm）波段進行應力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）和特定形狀（非球面透鏡）的技術解決方案。

應力雙折射測量系統(tǒng)，非球面透鏡應力雙折射測量，應力橢偏儀，應力橢偏測量,殘余應力測量

Hinds 公司的不規(guī)則非球面光學元件應力分布測量系統(tǒng)（應力雙折射測量系統(tǒng)）通過對光的調(diào)制解調(diào)可以測出待測光學元件中的雙折射大小和方向，這些數(shù)據(jù)同時也表示了應力的大小和方向。Hinds 公司這套不規(guī)則非球面光學元件應力分布測量系統(tǒng)的傾斜，多角度入射掃描技術可以保證對非球面不規(guī)則的光學元件（光刻機透鏡等）有著的掃描測量解決方案。