TH511半導體C-V特性分析儀

TH511半導體C-V特性分析儀

TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。  

TH510系列半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù)，適用于生產(chǎn)線快速分選、自動化集

成測試及滿足實驗室研發(fā)及分析。

TH510系列半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz， VGS電壓可達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。  

得益于10.1英寸、分辨率達1280*800的電容式觸摸屏，TH510系列半導體器件C-V特性分析儀可將四個參數(shù)同屏顯示、所有設(shè)置、監(jiān)視、分選參數(shù)、狀態(tài)等可以在同一屏顯示，避免了頻繁的切換的

操作。

功能特點

A.單點測試，10.1英寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細節(jié)一覽無遺

10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率，Linux系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN接口，帶來了無以倫比的操作便捷性。

MOSFET最重要的四個寄生參數(shù)：Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個界面直接顯示測量結(jié)果，并將四個參數(shù)測試等效電路圖同時顯示，一目了然。

多至6個通道測量參數(shù)可快速調(diào)用，分選結(jié)果在同一界面直接顯示。

B.列表測試，靈活組合

TH510系列半導體C-V特性分析儀支持最多6個通道、4個測量參數(shù)的測試及分析，列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測量條件任意組合，并可設(shè)置極限范圍，并顯示測量結(jié)果 。

C.曲線掃描功能（選件）

TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析，可以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描，可同時顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。

D.簡單快捷設(shè)置

參數(shù)可任意選擇，可打開及關(guān)閉，關(guān)閉參數(shù)可有效節(jié)約時間和數(shù)據(jù)傳輸；延時時間可自動設(shè)置或自行設(shè)置；柵極電阻可選漏源短路或漏源開路。

E.10檔分選及可編程HANDLER接口

儀器提供了10檔分選，為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級提供了可能，分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。

在與自動化設(shè)備連接時，怎么配置HANDLER接口輸出，一直是自動化客戶的難題，TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應信號、應答方式等可視化，讓自動化連接更簡單。

F.支持定制化，智能固件升級方式

G.半導體元件寄生電容知識

在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態(tài)特性，所以在設(shè)計半導體元件時需要考慮下列因數(shù)

在高頻電路設(shè)計中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響；MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅(qū)動能力和開關(guān)損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計中也是至關(guān)重要，

以MOSFET為例。

H.標配附件

TH26063B六端測試夾具

應用

■ 半導體元件/功率元件

二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光

電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

■ 半導體材料

晶圓、C-V特性分析

■ 液晶材料

彈性常數(shù)分析

出售半導體C-V特性分析儀