泰勒霍普森輪廓儀代理
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 無錫駿展儀器有限責(zé)任公司
- 品牌 TaylorHobson/英國泰勒霍普森
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/6/2 8:12:44
- 訪問次數(shù) 936
產(chǎn)品標(biāo)簽
聯(lián)系方式：張經(jīng)理18068309380 查看聯(lián)系方式
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涂層測厚儀，鍍層厚度測量儀，涂鍍層厚度無損測量儀，手持式涂鍍層測厚儀，表面電鍍層厚度測量儀，油漆涂層測厚儀，便攜式涂層測厚儀，菲希爾涂層測厚儀，無損測厚儀，覆層測厚儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥,綜合 |
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CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀簡介
CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法，來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測量功能和專業(yè)的厚薄膜測量技術(shù)。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高?，F(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。
CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀優(yōu)勢
2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
適用于0.3% - 100%的表面反射率
RMS 重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
多語言版本的64位控制和分析軟件
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