| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,航空航天,綜合 | 三維形貌測量重復(fù)性 | ＜0.5nm |
| 膜厚測量重復(fù)性 | 0.01nm | 折射率重復(fù)性 | 0.0005 |
ATOMETRICS優(yōu)可測是板石智能旗下專注于高精測量領(lǐng)域的國產(chǎn)自主品牌，致力為半導(dǎo)體、精密光學(xué)、新能源、3C消費(fèi)類電子、醫(yī)療、刀具、航空航天等行業(yè)和高校提供三維測量產(chǎn)品、解決方案及相關(guān)服務(wù)，產(chǎn)品精度覆蓋到微米、納米甚至亞納米級，滿足生產(chǎn)、研發(fā)和品控過程中表面粗糙度、臺階、3D形貌、三維形貌比對、高度、平面度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等各種測量需求。優(yōu)可測衍射三維形貌儀，光柵尺寸新一代測量解決方案，可測膜厚、占空比、側(cè)壁角等，廣泛應(yīng)用于光通訊硅波導(dǎo)、生物芯片、NAND、AR/VR結(jié)構(gòu)光柵、DRAM、光學(xué)薄膜等，可測多種形貌結(jié)構(gòu)，可根據(jù)客戶不同光柵類型和場景提供客制化。
采購中心
化工儀器網(wǎng)