華科智源結(jié)電容測試儀，可以測試MOS管，IGBT，SIC器件的柵極電阻和柵極電容，包含Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容，Rg等參數(shù)，可以單點測試，也可以掃描測試曲線；

• 品牌： 華科智源

• 名稱： 柵極電阻測試儀

• 型號： HUSTEC-CV-1200

• 用途： 測試MOS管結(jié)電容，Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容，Rg等參數(shù)

可測參數(shù)： Ciss/Coss/Crss/Rg MOS管結(jié)電容測試

可測器件： IGBT，二極管，氮化鎵、碳化硅 MOSFET 等

測試頻率：1MHz

測試電壓范圍：Vds 0~1200V，Vgs ±25V

信號電壓范圍：1mV~1000mV

Rg 范圍：≤300Ω

測試精度：0.01pf

華科智源結(jié)電容測試儀特點：

1，測試速度快。

2，可點測和掃描曲線。

3，測試精度高，測試結(jié)果穩(wěn)定精準。

4，可隨時保存數(shù)據(jù)和波形，可直接生成規(guī)格書用的圖片或 CSV 描點文件。