產(chǎn)品描述

SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試，將老化與電參數(shù)測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。

基本特點:

• 1. 老化測試系統(tǒng)單板128路雙向I/O通道，共用8個時鐘邊沿（6個驅動邊沿，2個比較邊沿）

• 2. 1Mbit/通道圖形深度，失效存儲深度1kbit/通道，只存失效

• 3. 支持圖形向量微指令

• 4. 單板4通道PMU，提供 FV,FI,MV,MI功能，電壓范圍-3V~+12V；電流范圍-80mA~+80mA

• 5. 數(shù)字通道驅動電壓范圍-3V~+12V；比較電壓范圍-3V~+12V

• 6. 數(shù)量可配置程控電源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等

• 7. 提供各老化試驗區(qū)電壓、電流測試

• 8. 128個輸出控制繼電器

• 9. 試驗溫度范圍：5℃～150℃；溫度均勻度±3℃

• 10.RJ45網(wǎng)口數(shù)據(jù)傳輸與控制

• 11.高溫老化試驗箱分16個區(qū)域，支持同時老化測試16種不同類型、不同封裝形式的器件

• 12.系統(tǒng)提供電源過壓、過流和短路保護