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襯底電阻率方阻測試儀

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術的非接觸式半導體檢測分析設備制造商。公司集研發(fā)、設計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術,替代進口產(chǎn)品,使半導體材料測試設備國產(chǎn)化。

主要產(chǎn)品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案

憑借*的技術和豐富的產(chǎn)品設計經(jīng)驗,申請各項知識產(chǎn)權20余項,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商,產(chǎn)品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

價格區(qū)間 面議 應用領域 電子/電池,電氣,綜合
自動化度 半自動

襯底電阻率方阻測試儀相關介紹:

襯底的定義

1.襯底的物理與化學性質

襯底,或稱基片(substrate),是指在半導體器件制造過程中用來支持其他材料或結構的底層材料。襯底的物理性質包括其晶體結構、機械強度、熱導率、膨脹系數(shù)等,而化學性質則涵蓋其純度、表面化學穩(wěn)定性、化學反應活性等。常見的襯底材料如硅(Si)、砷化鎵(GaAs)、碳化硅(SiC)等,因其物理與化學性質而被廣泛應用。

2.襯底的作用與功能

在半導體制造中,襯底起到至關重要的支撐作用。首先,襯底為后續(xù)的材料沉積和器件制作提供了一個平整且穩(wěn)定的基礎,其次,襯底材料的選擇直接影響器件的性能和制造成本。此外,襯底還需具備良好的機械強度和熱導率,以支持器件在高功率和高溫條件下穩(wěn)定運行。

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