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化工儀器網>產品展廳>半導體行業(yè)專用儀器>集成電路測試與分選設備>信號測試系統(tǒng)/半導體測試機>LET-5000系列 半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

LET-5000系列 半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 深圳力鈦科技術有限公司
  • 品牌
  • 型號 LET-5000系列
  • 產地 廣東深圳
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2025/7/22 9:05:57
  • 訪問次數(shù) 55

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


深圳力鈦科技術有限公司Shenzhen Letak Technology Co., LTD (簡稱力鈦科技術)成立于2014年,是一家集研發(fā)、生產和銷售為一體的企業(yè)。力鈦科技術通過與美國Teledyne LeCroy等多個廠家的緊密合作,共同開發(fā)了針對市場應用的產品,專注于功率半導體開發(fā)和應用,  并推出了靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、功率半導體動態(tài)參數(shù)自動化系統(tǒng)、半導體可靠性試驗系統(tǒng)等半導體測試儀器.

半導體器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),半導體動態(tài)測試測試系統(tǒng)

系統(tǒng)參數(shù)>>>

項目

參數(shù)

范圍

精準度

集電極-發(fā)射極

電壓

300V -- 8000V

±0.1%

電流

5A -- 6000A

±0.1%

電壓上升沿   

5ms

N/A

電流上升沿

15μs

N/A

最小電壓脈寬

1ms

±100uS

電流脈寬

50μs~500μs

±5μs

漏電流測試范圍

1nA~100mA


柵極-發(fā)射極

電壓

0--300V

±0.1%

電流

0--30

±0.1%

最小電壓分辨率

30μV

N/A

最小電流分辨率

1pA

N/A

電容測試

頻率范圍

10Hz~1MHz

±0.01%

電容值范圍

0.01pF~9.9999F

±0.05%

 

 

硬件優(yōu)勢>>>

力鈦科LETAK功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),配置有多種測量單元模塊,模塊化的設計測試方法靈活,能夠極大方便用戶添加或升級測量模塊,適應測量功率器件不斷變化的需求。

■ 高電壓達8000V(可擴展至10kV)

■ 大電流達6000A(多模塊并聯(lián))

納安級漏電流μΩ級導通電阻

■ 高精度測量0.1%

■ 模塊化配置可添加或升級測量單元

■ 測試效率高、自動切換、一鍵測試

■ 兼容多種封裝根據(jù)測試需求定制夾具

 

軟件特點>>>

■ 測試主機內部采用的電壓、電流測量單元,均采用多量程設計,測試精度為0.1%

■ 可支持8000V電壓輸出,且自帶漏電流測量功能

■ 柵極-發(fā)射極,可支持30V/10A脈沖電流輸出與測試,可測試低至p安級漏電流

■ 電容特性測試包括輸入電容、輸出電容、以及反向傳輸電容測試,頻率可支持1MHz

■ 集電極-發(fā)射極,可支持6000A高速脈沖電流,典型上升時間為15us,且具備電壓高速同步采樣功能

 

測試夾具>>>

針對市面上不同封裝類型的硅基功率半導體,IGBT、SiC、MOS、GaN等產品,力鈦科提供整套測試夾具解決方案,可用于TO單管,半橋模組等產品的測試,后期可根據(jù)客戶需求來定制化相對應封裝。




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