XF-A5SMC 西凡光譜測金儀A5SMC精準分析黃金白銀
- 公司名稱 西凡儀器（深圳）有限公司
- 品牌 CFAN/西凡儀器
- 型號 XF-A5SMC
- 產(chǎn)地 深圳市寶安區(qū)新橋街道黃埔社區(qū)上南東路128號2號廠房十層
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/6/17 8:40:14
- 訪問次數(shù) 199
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| 分析含量范圍 | 0.010%～99.999% | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 145±5eV | 行業(yè)專用類型 | 有色金屬 |
| 儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,綜合 |
| 元素分析范圍 | 鉀(19)～鈾(92) | 重復(fù)性 | 自定義 |
| 檢測精度 | ±0.03%(9999金) | 檢測樣品 | 貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體 |
| 探測器 | 美國AMPTEK定制Si-PIN | 內(nèi)置工控電腦 | Intel i3十核 |
| 高壓電源 | 50KV/1mA數(shù)字高壓電源 | 準直器 | Φ0.8毫米+Φ2.0毫米 |
XF-A5SMC是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè)。該產(chǎn)品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，內(nèi)置Intel十核CPU工控電腦，采用Smart FP算法，創(chuàng)新性應(yīng)用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等，檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高，性價比高。MC型號支持雙準直器，應(yīng)用范圍更廣。
產(chǎn)品特點
元素檢測范圍：鉀(19)～鈾(92)
可支持最多30個元素同時計算
可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析
可支持寶石人工/天然分析
鍍層報警、錸鎢檢測報警
分析范圍：
貴金屬：0.010%～99.999%
鍍層：0.002um~80um
液體：10mg/L~200g/L
檢測精度：
貴金屬：±0.03%(9999金)
鍍層：RSD≤2.5%
液體：RSD≤2.5%
檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體
支持多點連續(xù)測試，測試效率高
遵守ISO23345及ISO3497標準
核心部件
探測器：美國AMPTEK定制Si-PIN
探測器面積：6mm2
分辨率：145±5eV
內(nèi)置工控電腦：Intel i3十核
高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鋁
靶材：鎢
焦點：Φ0.5mm
準直器：Φ0.8毫米+Φ2.0毫米
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