悉識(shí)科技 光學(xué)非接觸 在線 薄膜膜厚測(cè)厚儀
- 公司名稱 蘇州悉識(shí)科技有限公司
- 品牌 Acuitik
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/14 18:59:14
- 訪問(wèn)次數(shù) 106
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-20萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥 |
悉識(shí)膜厚儀NS-OEM（國(guó)產(chǎn)自研，自主可控）
NS-OEM 是一款方便被集成到各種系統(tǒng)或環(huán)境中的，尤其適合在線測(cè)量的輕便小巧型膜厚測(cè)量系統(tǒng)。其光學(xué)探頭設(shè)計(jì)得較為緊湊，可適用于多種安裝環(huán)境。為確保測(cè)量精準(zhǔn)，光學(xué)探頭需與樣品表面保持垂直，建議使用我們配備的調(diào)角工具來(lái)精準(zhǔn)調(diào)節(jié)安裝角度。光學(xué)探頭經(jīng)由光纖連接到主機(jī)，光纖長(zhǎng)度靈活可變，能夠滿足不同布局的安裝需求。
核心原理
垂直入射的高穩(wěn)定寬波段光入射到樣品表面，在各膜層之間產(chǎn)生光學(xué)干涉現(xiàn)象，反射光經(jīng)過(guò)光譜分析以及回歸算法可計(jì)算出薄膜各層的厚度。適合測(cè)量納米級(jí)至微米級(jí)的透明或半透明膜層的厚度、反射率、折射率等參數(shù)。
產(chǎn)品特色
1、測(cè)量范圍：可測(cè)量1納米到250微米的薄膜厚度、折射率、反射率。
2、非接觸測(cè)量：可測(cè)量硬質(zhì)材料、軟質(zhì)材料或表面易受損的樣品。
3、高精度，高穩(wěn)定性：亞納米級(jí)厚度測(cè)量精度，靜態(tài)穩(wěn)定性可達(dá)0.02納米。
4、多層膜測(cè)量能力：可以測(cè)量多層復(fù)合薄膜各層的厚度。
5、智能化算法：核心IP算法，一鍵式測(cè)量大跨度膜厚，極大簡(jiǎn)化測(cè)量流程。
6、特色軟件功能：自研PolarX分析軟件，包含配方預(yù)測(cè)驗(yàn)證、特殊材料捏合等功能。
核心功能
實(shí)測(cè)結(jié)果展示
特別說(shuō)明
光學(xué)探頭專為集成到自動(dòng)化設(shè)備、在線系統(tǒng)、真空腔室、原位生長(zhǎng)腔室以及其他特殊環(huán)境而設(shè)計(jì)，以滿足多樣化的應(yīng)用需求。
波長(zhǎng)范圍: 190–1000 nm 或 350–1100 nm.
悉識(shí)膜厚儀NS-OEM 參數(shù)規(guī)格
| 型號(hào) | NS-OEM |
| 波長(zhǎng)范圍 | 190 nm - 1100 nm |
| 厚度測(cè)量范圍 | 1 nm – 100 mm |
| 準(zhǔn)確度 | 2 nm 或 0.2% |
| 靜態(tài)重復(fù)性 | 0.02 nm |
| 光斑大小 | 1.5 mm |
| 測(cè)量速度 | < 1s（單次測(cè)量） |
| 光源 | 鹵鎢燈(氘燈) |
| 主機(jī)-光學(xué)探頭連接方式 | 光纖 |
| 光纖長(zhǎng)度 | 1.3 米 (標(biāo)準(zhǔn)), 可選配不同長(zhǎng)度的光纖以適配實(shí)際環(huán)境 |
| 光學(xué)探頭尺寸 | 直徑: 19 mm, 長(zhǎng)度: 86 mm |
| 電源類型 | 90-264VAC, 47-63Hz, 1.4A/115VAC 1A/230VA |
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