CGJDN-1200型超高溫介電溫譜儀
參考價(jià) | ¥ 555 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/27 17:49:30
- 訪問次數(shù) 32
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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關(guān)鍵詞:超高溫,介電溫譜,阻抗
CGJDN-1200型超高溫介電溫譜儀是一款提供超高溫環(huán)境的高溫介電溫譜儀,該儀器采用紅外鍍金聚焦?fàn)t或電加熱技術(shù), 雙屏蔽高頻測試線纜、抗電網(wǎng)諧波模塊,確保高頻弱信號測量穩(wěn)定性. 支持4個(gè)樣品同步測量,提升效率, 可疊加0–5000V直流高壓,研究材料在外電場下的性能變化,是目前高校和研究所研究材料的重要設(shè)備。
主要測試指標(biāo):
1、 Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc;
2、 高低溫介電測試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測試與分析,可測試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和介電損耗參數(shù)。
3、 系統(tǒng)操作簡單、方便,可靈活定制測試項(xiàng)目。測試材料的介電頻譜、阻抗頻譜、介電溫譜、阻抗溫譜、導(dǎo)納譜、cole-cole圖以及C-V特性。
一、核心組成與工作原理?
系統(tǒng)架構(gòu)?
高溫測試平臺?:提供高溫環(huán)境(室溫至1200℃),采用紅外鍍金聚焦?fàn)t或電加熱技術(shù),控溫精度可達(dá)±0.1℃。
測試夾具?:三電極法設(shè)計(jì),鉑銥合金或氧化鋁-鉑金復(fù)合探針,支持真空氣氛環(huán)境測試,減少寄生電容干擾。.
阻抗分析儀?:頻率范圍10Hz–50MHz,精度0.05%,支持復(fù)阻抗譜(Cole-Cole圖)及機(jī)電耦合系數(shù)分析。
控制軟件?:集成Labview系統(tǒng),支持介電溫譜/頻譜、升溫程序(勻速/階梯/循環(huán))、數(shù)據(jù)自動(dòng)保存與異常保護(hù)。
關(guān)鍵技術(shù)?
抗干擾設(shè)計(jì)?:雙屏蔽高頻測試線纜、抗電網(wǎng)諧波模塊,確保高頻弱信號測量穩(wěn)定性1
多通道測試?:支持4個(gè)樣品同步測量,提升效率410。
高壓擴(kuò)展?:部分型號(如GWGYJD-1000W)可疊加0–5000V直流高壓,研究材料在外電場下的性能變化
主要技術(shù)參數(shù):
1、探針臺外形尺寸:180*160*35mm±5mm;樣品臺可固定在光學(xué)平臺上,溫度控制器通過網(wǎng)線和計(jì)算機(jī)聯(lián)絡(luò);
2、探針要求:鎢鋼鍍金探針,可滿足高溫下的介電溫譜測試;
3、冷熱方式:電阻加熱;
4、溫控范圍:RT~1200℃;
5、溫度穩(wěn)定性:使用溫度<1000℃時(shí),溫度精度±0.1℃,且使用溫度≥1000℃時(shí)溫度精度±0.5℃;
6、溫度分辨率:0.01℃;
7、升降溫速率:全溫度區(qū)間0~30℃/min(可定點(diǎn)/程序段控溫)
8、溫控方式:PID;
9、溫度傳感器:熱電偶;
10、視窗材質(zhì):石英玻璃(可手動(dòng)拆卸更換);
11、視窗尺寸:φ25mm;
12、探針:固定式探針*5;
13、探針接口:BNC*5;
14、樣品臺尺寸:35*35mm;
15、樣品臺材質(zhì):陶瓷;
16、樣品腔高度:≥6mm;
17、腔室:氣密腔室;
18、外殼冷卻:循環(huán)水。
19、適配介電溫譜測試系統(tǒng)(4通道);提供4通道介電溫譜測試軟件;
19.1、測試系統(tǒng)需自帶校準(zhǔn)程序,在電腦端操作控制探針臺升降溫速率,目標(biāo)溫度,可分段控制升溫速率,具備即時(shí)記錄溫度點(diǎn)。
19.2、多頻率同時(shí)采集,操作簡單,所有測試結(jié)果實(shí)時(shí)保存,測試過程曲線繪制。
19.3、測試頻率:20Hz—2MHz;
19.4、測試激勵(lì)電平:0至2Vrms/0至20mArms;
19.5、測試指標(biāo):Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc;
19.6、測試精度:0.05%;
19.7、測量時(shí)間:12ms(SHORT),118ms(MED),343ms(LONG)@1MHz;
19.8、支持ALC自動(dòng)電平控制;
19.9、可支持201點(diǎn)的掃頻測量,可編程,可任意設(shè)置頻率,測量范圍以及激勵(lì)條件并自動(dòng)繪制顯示阻抗隨頻率變化曲線;
19.10、支持線纜夾具補(bǔ)償校準(zhǔn)以及電纜延長補(bǔ)償功能。