自旋電子學經(jīng)過數(shù)十年的發(fā)展，已在傳感器、非易失性磁存儲以及新材料特性研究等多個領(lǐng)域展現(xiàn)出重要價值。它不僅是當前科學研究的前沿熱點，也受到了工業(yè)界的廣泛重視。對磁疇進行直接觀測與記錄，對于深入理解材料特性具有重要意義；而剖析磁疇的運動過程，不僅能直觀展示磁性翻轉(zhuǎn)現(xiàn)象，更有助于揭示其背后的物理機理。

傳統(tǒng)的單點磁滯回線測量儀已難以滿足當前需求，相比之下，磁光克爾綜合測試平臺能夠追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬點的實時磁性動態(tài)信息。配合該平臺提供的直流探針和高頻探針，樣品測試變得無比便捷。如今，自旋電子學與磁學的研究已從早期的磁性驅(qū)動翻轉(zhuǎn)，深入到直流電流、脈沖電流、微波脈沖乃至光驅(qū)動等多種激勵源作用下的復雜過程研究。

在這樣的背景下，托托科技 磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備——TTT-02-Kerr Microscope。顯微磁疇空間分辨率優(yōu)于0.5微米，磁光克爾角分辨率優(yōu)于0.1毫度，并支持極向、縱向、橫向三種磁光克爾效應測量方式。它不僅能實時追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬點的磁疇動態(tài)，還能搭配探針臺，實現(xiàn)電學、磁學、光學參數(shù)的同步觀測。因此，該設(shè)備廣泛應用于磁學和自旋電子學領(lǐng)域，是觀測磁光克爾效應、磁滯回線、磁疇翻轉(zhuǎn)與擴展等關(guān)鍵現(xiàn)象的理想工具。

托托科技 磁光克爾顯微鏡綜合測試設(shè)備擁有多項產(chǎn)品亮點：

智能照明系統(tǒng)：

提供穩(wěn)定且均勻的光源。

具備極向、縱向和橫向測試能力。

光源亮度高達市場上同類產(chǎn)品的4倍。

多功能顯微系統(tǒng)：

支持線偏振光和圓偏振光。

提升了相差畸變矯正效果。

配備電動顯微聚焦功能。

矢量磁場系統(tǒng)：

垂直磁場模式Z高可達1.4T（間隙1cm）。

面內(nèi)磁場Z高可達1.0T（間隙1cm）或0.36T（間隙4cm），并適配低溫恒溫器；矢量模式可達0.35T。

面垂直磁場與面內(nèi)磁場可快速切換。

相機系統(tǒng)：

超動態(tài)范圍達30000:1（相比同類提升十倍）。

高量子效率超過80%（相比同類提升1.2倍）。

支持高速攝像與高分辨率成像。

直流/交流探針：

可與多種外接電表匹配（如6221，2400等）。

可配合高頻電表使用。

適用于配合引線鍵合器件進行測試。

光學平臺：

采用氣浮隔振技術(shù)。

配備電子主動反饋隔振系統(tǒng)，確保穩(wěn)定性。