HAST 非飽和壓力老化驗證試驗箱
參考價 | ¥ 22000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司
- 品牌 皓天鑫
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/8/6 15:17:18
- 訪問次數(shù) 17
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件 |
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HAST 非飽和高壓試驗箱的核心突破在于 “非飽和濕度控制”,區(qū)別于傳統(tǒng)飽和模式易產(chǎn)生冷凝水的缺陷,其技術(shù)設(shè)計直擊精密電子元件的測試痛點:
核心參數(shù)控制能力
溫度范圍覆蓋 105℃-145℃(高溫段)、85℃-125℃(中溫段),壓力控制 0-3bar(壓力),濕度精準維持 30%-95% RH(非飽和狀態(tài),偏差 ±3% RH)。采用 “干濕球法 + PID 智能算法”,通過獨立濕度發(fā)生器與壓力平衡系統(tǒng),避免樣品表面產(chǎn)生冷凝水,解決傳統(tǒng)飽和 HAST 對怕水元件(如 PCB 板、芯片封裝)的測試局限。
非飽和模式的技術(shù)優(yōu)勢
傳統(tǒng)飽和 HAST 中,濕度接近 上限 RH 時易形成冷凝水,導(dǎo)致樣品短路或測試數(shù)據(jù)失真。非飽和模式通過精確控制濕度梯度(如 50% RH@132℃),真實模擬高海拔、熱帶高壓等環(huán)境下的 “干燥高溫高壓” 工況,尤其適合半導(dǎo)體芯片、LED 驅(qū)動電源等對水分敏感的器件測試。其溫度波動≤±0.5℃,壓力偏差≤±0.02bar,確保測試條件穩(wěn)定可控。
結(jié)構(gòu)與安全設(shè)計
腔體采用 316L 不銹鋼一體焊接(抗腐蝕、耐高壓),容積從 50L(實驗室小型)到 500L(量產(chǎn)測試)可選,配備分層擱板(承重 50kg / 層)實現(xiàn)多樣品同步測試。安全系統(tǒng)包含超溫報警(±5℃偏差觸發(fā))、壓力自動卸荷閥、防爆觀察窗(耐 10bar 瞬時壓力),符合 IEC 61010-1 電氣安全標準,保障操作人員與樣品安全。
智能控制系統(tǒng)
7 英寸觸控屏支持 100 組程序存儲(每組 99 段步驟),可預(yù)設(shè) “溫度 - 壓力 - 濕度” 聯(lián)動曲線(如 121℃/1.2bar/60% RH 維持 100 小時)。配備 RS485/USB 接口,數(shù)據(jù)采集頻率 1 次 / 秒,支持 Excel 格式導(dǎo)出與 PDF 報告自動生成,高配機型可接入實驗室管理系統(tǒng)(LIMS)實現(xiàn)遠程監(jiān)控。
半導(dǎo)體與集成電路
針對 IC 芯片、晶圓、傳感器,按照 IEC 60068-2-66 標準進行高壓加速應(yīng)力測試,模擬 5-10 年的自然老化過程。通過 132℃/2.1bar/50% RH 環(huán)境,加速檢測芯片封裝缺陷(如微裂紋、密封不良)導(dǎo)致的性能衰減。某晶圓廠引入設(shè)備后,將芯片早期失效率檢測周期從 1000 小時縮短至 200 小時,研發(fā)效率提升 5 倍。