Sensofar S neox：3D 光學輪廓測量的選擇
| 參考價 | ￥ 800000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地 西班牙
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/8/11 16:28:47
- 訪問次數(shù) 15
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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
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融合前沿科技的測量技術
四合一技術協(xié)同：S neox 集成了共聚焦、白光干涉、主動照明多焦面疊加（AI 焦點變化）以及反射光譜等四種先進的光學測量技術。共聚焦技術利用物鏡共焦平面處的孔徑，阻擋離焦光線進入成像系統(tǒng)，精準捕捉樣品的聚焦平面，通過機械或數(shù)字掃描孔徑，能夠獲取清晰的 2D 輪廓和 3D 表面圖像。白光干涉技術則借助干涉儀兩臂（參考臂與樣品臂）反射光的光程差，生成空間干涉條紋，以此精確測量表面高度信息，在測量光滑表面時具有的精度。AI 焦點變化技術通過垂直掃描光學元件或樣品，獲取一系列表面圖像，運用算法確定各幀中的聚焦點，進而構建完整的聚焦圖像，即使在光學光滑表面也能實現(xiàn)可靠的焦點定位。反射光譜技術從另一個維度提供關于樣品表面材質及特性的信息，多種技術相互補充，無論面對何種復雜表面，S neox 都能應對自如。Sensofar S neox：3D 光學輪廓測量的選擇
智能算法與高速相機驅動：搭載全新的智能且算法，配合高性能新型相機，S neox 在數(shù)據(jù)采集速度上實現(xiàn)了飛躍。數(shù)據(jù)采集幀率高達 180fps，標準測量采集速度相比前代產品提升了 5 倍之多，使其成為市場上速度面測量系統(tǒng)。快速的數(shù)據(jù)采集不僅提高了工作效率，在對動態(tài)過程或需要大量測量數(shù)據(jù)的場景中，更能完整、準確地捕捉表面信息，避免因采集速度慢導致的數(shù)據(jù)缺失或偏差。白光干涉儀
出色的測量性能表現(xiàn)
高精度測量保障：能夠在不同尺度下對各類紋理、結構、粗糙度和波度進行精確測量。無論是納米級別的微觀表面特征，如半導體芯片上的電路線條粗糙度測量，還是毫米級別的宏觀表面輪廓檢測，如精密機械零件的表面平整度評估，S neox 都能提供極其準確的測量結果。其測量精度可滿足科研領域對新材料表面特性研究的嚴苛要求，也能在工業(yè)生產中為質量控制提供可靠依據(jù)，確保產品符合高精度標準。
寬測量范圍覆蓋：適用于各種高精度表面測量應用場景，從超光滑的光學鏡片表面，到具有復雜紋理的生物組織樣本，或是具有特殊結構的功能性材料表面。例如在光學領域，可對鏡片表面的亞納米級缺陷進行檢測；在生物醫(yī)學研究中，能分析細胞表面的微觀結構；在材料研發(fā)中，針對具有特殊紋理以增強性能的材料，S neox 能全面測量其表面特征，為材料性能優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。
便捷的操作與多樣化應用
用戶友好的操作體驗：Sensofar 致力于為客戶提供使用體驗，S neox 的第五代系統(tǒng)在操作便捷性上達到了新高度。即使是初次接觸的用戶，也能通過簡單的一鍵操作輕松掌控系統(tǒng)。軟件模塊經(jīng)過精心設計，可根據(jù)用戶需求進行定制化配置，無論是基礎的表面粗糙度測量，還是復雜的 3D 表面重建分析，都能通過相應的軟件功能快速實現(xiàn)。同時，系統(tǒng)還具備操作員訪問權限控制、測量流程配方設置、與條形碼 / QR 碼讀取器的兼容性以及可定制插件等功能，方便在質量控制環(huán)境中實現(xiàn)自動化操作，生成詳細的通過 / 失敗報告，大幅提高工作效率。
廣泛的行業(yè)應用：在質量控制方面，S neox 的自動化模塊和靈活易用的界面，使其能夠輕松融入 24/7 不間斷運行的生產環(huán)境。無論是電子產品制造中的零部件表面檢測，還是汽車工業(yè)中發(fā)動機缸體、活塞等關鍵部件的表面質量把控，都能通過預設程序快速、準確地進行測量和評估，及時發(fā)現(xiàn)生產過程中的質量問題，降低次品率。在研發(fā)領域，科研人員利用 Sensofar 的 “3 合 1” 操作方式，在 Sensoscan 軟件中一鍵切換系統(tǒng)至當前任務的測量技術，為材料科學、生物醫(yī)學工程、微納制造等多學科研究提供了強大的表面分析工具。例如在材料相變研究中，實時觀測材料表面在不同溫度、壓力條件下的微觀結構變化；在生物醫(yī)學領域，研究細胞在不同培養(yǎng)條件下的表面形態(tài)改變，為疾病診斷和治療方案的開發(fā)提供基礎數(shù)據(jù)。
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