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日立分析儀器(上海)有限公司

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X射線電鍍厚度分析儀

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    深圳市天創(chuàng)美科技有限公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環(huán)境保護、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。






能量色散X熒光光譜儀,ROHS ROHS2.0 REACH指令檢測儀|化合物分析|元素分析儀|土壤檢測儀|ROHS檢測儀|合金檢測儀|元素分析儀|礦石檢測儀|含鉛量檢測儀

應用領域 電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣,綜合

X射線電鍍厚度分析儀

X射線電鍍鍍層厚度檢測儀是一款基于先進X射線熒光光譜技術的高精度檢測設備,專為電鍍行業(yè)鍍層厚度測量而設計,在保障產品質量、控制生產成本等方面發(fā)揮著關鍵作用。

工作原理

該設備利用X射線管發(fā)射出高能X射線,照射到被測電鍍樣品表面。鍍層中的原子受到X射線激發(fā)后

X射線電鍍厚度分析儀

,會釋放出具有特定能量的次級X射線,即熒光X射線。探測器會精準捕捉這些熒光X射線,并將其轉化為電信號。通過專業(yè)的分析軟件對這些信號進行處理和分析,依據熒光X射線的強度與鍍層厚度之間的定量關系,從而精確計算出鍍層的厚度。

核心優(yōu)勢

  • 高精度測量:具備好的測量精度,能夠精確到微米甚至納米級別,可滿足不同行業(yè)對鍍層厚度的嚴苛要求,確保產品質量的一致性和穩(wěn)定性。

  • 無損檢測:檢測過程無需破壞樣品,不會對電鍍產品造成任何損傷,這對于一些高價值、工件尤為重要,大大降低了檢測成本和風險。

  • 快速高效:檢測速度極快,能夠在短時間內完成對樣品的測量,并即時顯示測量結果,有效提高了生產效率,減少了檢測環(huán)節(jié)對生產流程的干擾。

  • 多元素分析:不僅可以測量鍍層厚度,還能同時分析鍍層中的元素組成和含量,為電鍍工藝的優(yōu)化提供全面的數據支持。

應用領域

廣泛應用于電子、汽車、航空航天、五金制品等多個行業(yè)。在電子行業(yè),用于檢測印刷電路板、連接器等電子元件的鍍層厚度;在汽車行業(yè),可對汽車零部件的鍍鋅、鍍鉻層進行質量控制;在航空航天領域,對于保障飛行器關鍵部件的耐腐蝕性和性能穩(wěn)定性至關重要。

設備組成

主要由X射線管、探測器、樣品臺、控制系統(tǒng)和分析軟件等部分組成。各部分協(xié)同工作,確保設備能夠穩(wěn)定、準確地完成鍍層厚度檢測任務。

以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細介紹

鍍層檢測:

常見金屬鍍層有:

鍍層

基體

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

單層厚度范圍:

金鍍層0-8um,

X射線電鍍厚度分析儀


鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內,

可最小測量達0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數為1-6層

鍍層精度相對差值一般<5%。

鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

鍍層分析優(yōu)勢:分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm

單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)

Ni層厚度(um)

保證精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

元素成分分析:

鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。

ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實現鍍層與環(huán)保一機多用。

金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。

檢測精度:

Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測限達1ppm。

對這些金屬測試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:

A. 檢測含量大于5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于1%

B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于2%

C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于5%

D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%

測量精度:

1)精度(單層):

                             測厚儀的檢測精度表

Ni層厚度(um)

精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

   測試方法: 在相同的操作條件下,對同一標準樣板進行5次檢測,檢測到的平均數據與標樣板的實際數據作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差(平均誤差)

2)兩層及以上:

 兩層及以上的首層精度符合單層的測試結果,但是第二層以上比較復雜,要根據上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時,一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報告 一層金標樣厚度0.101um,第二層鎳的標樣厚度為4.52um。

  一層厚度在2~5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會在5~10%,第三層的誤差率小于15%。

重復性:

保證重復性值:±5%

   重復性的檢測應在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續(xù)重復檢測,連續(xù)測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。

重復性=平均誤差÷平均值×100* %.

報告打?。?/span>

可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數據查詢方便

安全使用,維護與保養(yǎng)

由于儀器非常精密,未經允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。

儀器安裝一定要平穩(wěn),儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。

請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。

進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。

儀器環(huán)境要求:儀器使用環(huán)境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度80%,電源:AC: 220V ±5V。

以上細節(jié)均有可能造成無法預測后果,買方應予以基本遵守。



X射線電鍍厚度分析儀



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