SEISHIN清新 顆粒壓縮試驗(yàn)裝置 MHT-1

SEISHIN清新 顆粒壓縮試驗(yàn)裝置 MHT-1

 產(chǎn)品產(chǎn)品信息

顯微硬度計(jì)MHT-1(顆粒壓縮試驗(yàn)裝置)

微型硬度計(jì)MHT-1通過更換測量臺可以測量40至400μm。*這是一款用于細(xì)顆粒的自動壓縮試驗(yàn)裝置。它測量用壓頭施加載荷壓碎顆粒時的峰值載荷和粒徑，并計(jì)算抗壓強(qiáng)度。從壓縮到破壞的過程通過圖像數(shù)據(jù)和載荷-位移曲線記錄下來。從測量結(jié)果中選擇任意顆粒，即可通過載荷-位移曲線和連續(xù)圖像確認(rèn)破壞過程。

*根據(jù)規(guī)格，目標(biāo)粒徑為40至120μm或50至400μm。

對于200至1500μm的顆粒，也可使用 Better Hardness Tester BHT-1000（全自動粉末和顆粒壓縮試驗(yàn)裝置） 。

測量流程

我們 的技術(shù)能夠分散并采樣每個顆粒。只需插入樣品，系統(tǒng)就會自動重復(fù)壓縮測試和清潔。

圖像分析

圖像分析用于自動將顆粒識別為單個顆粒，并從測量中排除重疊顆粒和團(tuán)聚體，從而進(jìn)行壓縮測試。

規(guī)格

規(guī)格

MHT-1

MHT-1W（高分辨率）

測量方法

恒荷載法

測量項(xiàng)目

高度、粒度、峰值荷載、位移、抗壓強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、變形強(qiáng)度

目標(biāo)粒徑

50 至 400 μm

（手動測量為 1 mm）

*需要更換平臺

40至120μm

下降速度

從 1.0 至 10 μm/秒選擇

從 0.01 至 10 μm/秒選擇

測量粒子數(shù)

每個樣本最多 500 個顆粒

稱重傳感器

試驗(yàn)力

1N（最小顯示0.01mN）

可更改為5N、10N或20N

（可選）

1N（最小顯示0.01mN）

可改為5N

（選配）

相機(jī)

CMOS USB 攝像頭：可選

“480 x 270”130,000 像素、“640 x 360”230,000 像素、“960 x 540”520,000 像素或

“1920 x 1080”207 萬像素

車身尺寸

W450×D460×H400 mm ※含突出部分

重量

約25公斤

約26公斤

實(shí)用工具

交流100V 50/60Hz 2A

其他的

壓頭：φ0.45mm直徑直頭（ 表面處理）

LED燈、防塵罩、校準(zhǔn)砝碼

您可以滾動

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