納米尺度分析：ZEM系列臺式電鏡介紹
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/8/20 10:57:00
- 訪問次數(shù) 12
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,地礦,能源,汽車及零部件,綜合 |
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澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。納米尺度分析：ZEM系列臺式電鏡介紹
產(chǎn)品細節(jié)與性能：
JS系列采用壓電陶瓷驅(qū)動和柔性鉸鏈結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)了探針的平穩(wěn)掃描。測量力可調(diào)，以適應(yīng)不同硬度樣品的測量需求，避免對樣品造成損傷。
核心參數(shù)（JS 400例）：
掃描范圍：100μm × 100μm × 25μm (XYZ)
垂直分辨率：0.1nm
掃描速度：0.01 - 1mm/s
樣品尺寸：直徑≤ 6英寸
用途：
主要用于半導(dǎo)體制造中的膜厚測量、MEMS器件表面形貌表征、材料表面的粗糙度分析等。
使用簡述：
選擇并安裝合適的探針，將樣品固定在樣品臺上。通過軟件設(shè)定掃描路徑和參數(shù)，系統(tǒng)即可自動完成測量并生成三維輪廓圖。納米尺度分析：ZEM系列臺式電鏡介
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