技術參數(shù)
·信息分辨率極限 U-TWIN 0.10nm ;S-TWIN 0.14nm
·點分辨率 U-TWIN 0.17nm ;S-TWIN 0.20nm
·高分辨STEM分辨率 U-TWIN 0.14nm ;S-TWIN 0.19nm
·樣品zui大傾角 S-TWIN +/- 40°

主要特點
·高性能的透射電子成像、掃描透射成像和納米、原子
  尺度分析
·所有的*分析技術集成于一體: TEM、HR-TEM、
  STEM、HR-STEM、電子衍射、EFTEM、EDS和EELS頻譜
  圖、全息技術和Lorentz透鏡技術
·強樣品穿透能力
·*性能的能量過濾透射電鏡和電子能量損失譜分析
·超穩(wěn)定的聚焦、高壓、能量色散、束斑、對中和樣品
  臺