NanoMap-O 三維非接觸光學(xué)表面輪廓儀NanoMap-O
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京高光科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) NanoMap-O
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/7/17 14:00:22
- 訪問次數(shù) 506
產(chǎn)品標(biāo)簽
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
NanoMap-O三維非接觸光學(xué)表面輪廓儀基于白光干涉測(cè)量技術(shù)，可快速精確測(cè)量材料表面參數(shù)，像表面粗糙度，劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積，臺(tái)階高度，薄膜厚度等。所有測(cè)量都是非接觸、非破壞的，而且無需制樣，無需真空，金屬非金屬均可，操作方便、直觀。
產(chǎn)品特性： 產(chǎn)品應(yīng)用：
非接觸測(cè)量 薄膜厚度測(cè)量
成像質(zhì)量在200萬像素之上 臺(tái)階高度測(cè)量
0.001nm的分辨率 表面粗糙度測(cè)量
nm到50mm的Z軸范圍 二維薄膜應(yīng)力測(cè)量
XY掃描范圍達(dá)到150x150mm 平坦度或曲率測(cè)量
超高分辨率數(shù)字成像傳感器傳輸數(shù)據(jù)快 表面輪廓（缺陷、形貌等）呈現(xiàn)
大于15年的LED光源壽命 劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量
NanoMap-O三維非接觸光學(xué)表面輪廓儀基于白光干涉測(cè)量技術(shù)，可快速精確測(cè)量材料表面參數(shù)，像表面粗糙度，劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積，臺(tái)階高度，薄膜厚度等。所有測(cè)量都是非接觸、非破壞的，而且無需制樣，無需真空，金屬非金屬均可，操作方便、直觀。
產(chǎn)品特性： 產(chǎn)品應(yīng)用：
非接觸測(cè)量 薄膜厚度測(cè)量
成像質(zhì)量在200萬像素之上 臺(tái)階高度測(cè)量
0.001nm的分辨率 表面粗糙度測(cè)量
nm到50mm的Z軸范圍 二維薄膜應(yīng)力測(cè)量
XY掃描范圍達(dá)到150x150mm 平坦度或曲率測(cè)量
超高分辨率數(shù)字成像傳感器傳輸數(shù)據(jù)快 表面輪廓（缺陷、形貌等）呈現(xiàn)
大于15年的LED光源壽命 劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量
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