產(chǎn)品簡介： 
        傳統(tǒng)的光器件和光模塊的光損耗測試一般有兩種模式：采用自己搭建的步進式測試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制，很難滿足光傳遞功能連續(xù)掃描測試的需求；而后者盡管在性能上可以得到保障，但是由于系統(tǒng)的價格和難以擴展，也很難被用戶所接受。
       CT-400采用*的設計理念，克服了兩種測試方法的缺點，形成了業(yè)界zui為綜合的、緊湊式的低價格的寬波長范圍的光損耗測試方案，可進行寬譜范圍內(nèi)的光器件和光模塊的精確的光功率、光波長、光損耗和光的偏振測試。

產(chǎn)品特性：                                                                           產(chǎn)品應用： 
         支持4個可調(diào)諧光源                                                              光功率測試
         支持多個連續(xù)掃描                                                                光損耗測試
         測量速度快                                                                            光波長測試
         體積小、價格便宜                                                                光偏振測試
         精度高