CSK-IIIA 超聲波試塊(無(wú)損探傷檢測(cè))
- 公司名稱 上海越磁電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) CSK-IIIA
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2015/11/27 18:51:11
- 訪問(wèn)次數(shù) 1045
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CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號(hào):CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國(guó)標(biāo)):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥<0.05
(∥) :∥<0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測(cè)報(bào)告:
超聲波探傷 | |||
檢測(cè)儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
檢測(cè)部位 | 平面 | 耦合劑 | 機(jī)油 |
增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
衰減 | 42db | ||
探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無(wú)雜質(zhì),無(wú)影響使用缺陷. | ||
試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999(優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼)標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
金相分析:晶粒度7-8級(jí) |
備注:校準(zhǔn)(檢驗(yàn))所用主要計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器
1.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測(cè)量?jī)x,4.三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗(yàn),7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊