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光學(xué)薄膜測量儀的主要特點(diǎn)和操作注意事項(xiàng)
光學(xué)薄膜測量儀主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試，測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用進(jìn)口品牌，有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動作迅速。擊穿電流連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。如過壓、過流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺門開啟保護(hù)。
光學(xué)薄膜測量儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：
微電腦控制系統(tǒng)，大液晶顯示、PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看。
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制。
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
系統(tǒng)自動進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測量點(diǎn)數(shù)和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定。
實(shí)時(shí)顯示測量結(jié)果的Z大值、Z小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷。
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性。
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果。
標(biāo)準(zhǔn)的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)。
光學(xué)薄膜測量儀的操作注意事項(xiàng)：
1、試驗(yàn)結(jié)束后，必須切斷電源。
2、保持機(jī)器清潔，非試驗(yàn)用機(jī)時(shí)間，需用防塵布覆蓋整個(gè)儀器。
3、試驗(yàn)過程中要注意水平放置，測試時(shí)盡量減少人工干預(yù)。
4、注意定期的維護(hù)與保養(yǎng)。
5、如果儀器發(fā)生故障，操作人員在熟悉該設(shè)備使用手冊及電器原理的基礎(chǔ)上，須在售后服務(wù)人員的配合下方可進(jìn)行常規(guī)的維修保養(yǎng)與故障排除，嚴(yán)禁客戶擅自拆卸。
6、設(shè)備精度校驗(yàn)間隔時(shí)間按照有關(guān)規(guī)范執(zhí)行。