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日立分析儀器(上海)有限公司

4月日立展會(huì)訊息 | 2025年中國陶瓷電容器及材料技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇暨中國MLCC行業(yè)年會(huì)

時(shí)間:2025-4-7 閱讀:135
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2025年中國陶瓷電容器及材料技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇暨中國MLCC行業(yè)年會(huì)將討論MLCC(片式多層陶瓷電容器)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中的關(guān)鍵技術(shù),并邀請(qǐng)業(yè)內(nèi)專家進(jìn)行技術(shù)宣講。

 

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   主辦單位

 

中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)


 

 

   承辦單位


中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)科學(xué)技術(shù)委員會(huì)
中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)電容器分會(huì)
北京元六鴻遠(yuǎn)電子科技股份有限公司

 

   會(huì)議時(shí)間及地點(diǎn)

 

2025年4月24日

蘇州南大國際學(xué)術(shù)交流中心南門大堂

 


 

   日立解決方案

 

 

 


XRF鍍層測厚儀
鍍層測厚儀是一種用于測量材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層厚度的儀器。這種儀器在多個(gè)領(lǐng)域中都有廣泛的應(yīng)用,包括制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)以及商檢等檢測領(lǐng)域。它尤其適用于工程現(xiàn)場的測量工作。

在MLCC(片式多層陶瓷電容器)的生產(chǎn)和質(zhì)量控制過程中,鍍層測厚儀的應(yīng)用主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:

 

  • 金屬外電極厚度測量:MLCC的兩端封有金屬外電極,鍍層測厚儀可以精確測量這些電極的厚度,以確保其符合設(shè)計(jì)要求。這對(duì)于保證電容器的電氣性能和穩(wěn)定性至關(guān)重要。
  • 質(zhì)量控制與檢測:通過測量MLCC上各部分的鍍層厚度,可以監(jiān)控生產(chǎn)過程中的質(zhì)量變化,及時(shí)發(fā)現(xiàn)并糾正潛在問題。這有助于確保產(chǎn)品的一致性和可靠性。
  • 研發(fā)與改進(jìn):在MLCC的研發(fā)階段,鍍層測厚儀可以幫助工程師了解不同工藝參數(shù)對(duì)鍍層厚度的影響,從而優(yōu)化生產(chǎn)工藝,提高產(chǎn)品性能。

 


綜上所述,鍍層測厚儀在MLCC的應(yīng)用中發(fā)揮著重要作用,為電容器的生產(chǎn)、質(zhì)量控制和研發(fā)提供了有力的支持。

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熱分析儀
熱分析儀在MLCC(片式多層陶瓷電容器)的應(yīng)用中起到關(guān)鍵作用。通過熱重分析技術(shù),熱分析儀能精確測量MLCC在陶瓷燒結(jié)過程中的質(zhì)量變化,從而分析其熱穩(wěn)定性和組分。這對(duì)于確保MLCC的可靠性、高精度及小型化等特性至關(guān)重要,是MLCC研發(fā)與生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)。

 

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