目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>分析儀器>>表面殘留測(cè)量>> FP-mini-sv高靈敏度涂層薄膜測(cè)厚儀
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更新時(shí)間：2025-02-16 21:24:30瀏覽次數(shù)：1279評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè) |
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高靈敏度薄膜測(cè)厚儀是美國(guó)進(jìn)口的超薄薄膜和涂層厚度測(cè)量?jī)x器，高靈敏度薄膜測(cè)厚儀具有超薄薄膜厚度繪制和涂層厚度繪圖功能。
高靈敏度薄膜測(cè)厚儀特色
使用革命性的紅外反射吸收光譜技術(shù)，
能夠測(cè)量低至單層薄膜的厚度，
它的測(cè)量斑點(diǎn)zui小可到3x28mm，
非常適合整個(gè)表面的薄膜厚度測(cè)量繪制。
高靈敏度薄膜測(cè)厚儀是美國(guó)進(jìn)口的超薄薄膜和涂層厚度測(cè)量?jī)x器，高靈敏度薄膜測(cè)厚儀具有超薄薄膜厚度繪制和涂層厚度繪圖功能。高靈敏度薄膜測(cè)厚儀是美國(guó)進(jìn)口的超薄薄膜和涂層厚度測(cè)量?jī)x器，高靈敏度薄膜測(cè)厚儀具有超薄薄膜厚度繪制和涂層厚度繪圖功能。
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