目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>光學(xué)測(cè)量系列>>晶圓測(cè)試儀器>> FPEH-MX60晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-09-11 14:25:40瀏覽次數(shù)：426評(píng)價(jià)
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| 測(cè)量范圍 | 10MΩ | 測(cè)試電壓 | 220V |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 精度 | 0.001 |
| 類型 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池 |
| 重量 | 23kg | 1 | 2 |
晶圓電阻率測(cè)試儀采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)量。
晶圓電阻率測(cè)試儀應(yīng)用
晶圓制造，晶圓品控，晶圓檢測(cè)等。
晶圓電阻率測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
晶圓電阻率測(cè)試儀-低電阻測(cè)量
| Gauge Types | Wafer Diameter | Resistivity Range | Thickness Range |
| MX 601 | up to 6" | 5E4 to 5E9 Ohm*cm | 350 - 650µm |
| MX 6010 | 2", 3", 4" | 2E5 to 2E9 Ohm*cm | 300 - 600µm |
晶圓電阻率測(cè)試儀采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)量。
晶圓電阻率測(cè)試儀應(yīng)用
晶圓制造，晶圓品控，晶圓檢測(cè)等。
晶圓電阻率測(cè)試儀采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)量。
晶圓電阻率測(cè)試儀應(yīng)用
晶圓制造，晶圓品控，晶圓檢測(cè)等。
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