目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>表面微納測(cè)量>>晶圓翹曲度測(cè)量儀>> FPEH-MX20晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-09-11 11:33:07瀏覽次數(shù)：2015評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池 |
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量儀器。
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀應(yīng)用
晶圓來料檢測(cè)
晶圓研發(fā)和質(zhì)量控制
標(biāo)準(zhǔn)厚度型號(hào)
| 型號(hào) | 晶圓直徑 | 傳感器數(shù) | 厚度范圍 | 精度 | 分辨率 | 測(cè)量指標(biāo) |
| MX 203-4-37-Q | 2", 3", 4" | 21, 37 | 300 - 800µm | 1µm | 0.1µm | 厚度,TTV |
| MX 203-6-33-Q | 3", 4", 5", 6" | 9, 13, 21, 33 | 300 - 800µm | 1µm | 0.1µm | 厚度,TTV |
| 型號(hào) | 可容納晶圓尺寸 | 傳感器數(shù) | 厚度范圍 | 精度 | 分辨率 | 測(cè)量指標(biāo) |
| MX 203-6-41-q | 100x100, 125x125, 156x156 | 21, 33, 41 | 160 - 700µm | 1µm | 0.1µm | 厚度,TTV,BOW, Warp |
| MX 204-8-25-q | 125x125, 156x156 | 17, 25 | 150 - 600µm | 1µm | 0.1µm | 厚度,TTV,BOW, Warp |
| MX 204-8-49-q | 125x125, 156x156 | 25, 49 | 100 - 600µm | 1µm | 0.1µm | 厚度,TTV,BOW, Warp |
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量儀器。
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量儀器。
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