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X射線熒光光譜儀特點(diǎn)
    具有更高能量分辨率的硅片檢測(cè)器提高了光元件的檢測(cè)限，比Si引腳檢測(cè)器高出100倍。測(cè)量范圍更廣，幾乎可以滿足所有常規(guī)材料的元素分析要求。
    數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng)使數(shù)據(jù)采集速度更快，測(cè)量更穩(wěn)定，重復(fù)性好，長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定。
    集成多個(gè)圖像計(jì)算機(jī)化方法的軟件使得數(shù)據(jù)測(cè)量更加準(zhǔn)確和穩(wěn)定。
    軟件*監(jiān)控核心零件運(yùn)行，確保安全運(yùn)行。
專業(yè)真空系統(tǒng)提供更好的真空性能和出色的測(cè)試結(jié)果。
X射線熒光光譜儀Spectra-4000規(guī)格
可測(cè)元素：Na-U
元素含量：1ppm-99.99％
檢測(cè)限：1ppm
測(cè)量時(shí)間：60-200s（可調(diào)）
能量分辨率：129±5eV
X射線管較大輸出電流：1mA
極限壓力：6.7×10-2 Pa
樣品室尺寸：610 * 320 * 100（mm）（無(wú)真空）/Φ100* h75（mm）（真空）
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性（標(biāo)準(zhǔn)樣品）：±0.05％（高含量）/協(xié)調(diào)0.002％（微量）
優(yōu)異的重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)樣品）：0.06％（（高含量）/協(xié)和0.0025％（微量）