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便攜式薄膜測厚儀是款便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這款手持式薄膜測厚儀也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量,測量薄膜折射率n和k，薄膜厚度測量范圍為350-1000nm.
這款便攜式薄膜測厚儀不需要電線連接，也不需要實(shí)驗(yàn)室安裝空間，它從USB連接中獲取工作電源，這種設(shè)計(jì)方便客戶移動測量，只需USB線纜從計(jì)算機(jī)控制測量即可。
這款便攜式薄膜測厚儀采用全球**的3648像素和16bit的光譜儀，具有超高穩(wěn)定性的LED和熒光燈混合光源，光源壽命高達(dá)20000小時，

便攜式薄膜測厚儀產(chǎn)品特色
USB接口供電，不需要額外的線纜供電
超級便攜
方便現(xiàn)場使用
便攜式薄膜測厚儀參數(shù) 
可測膜厚： 15nm-90微米；
波長范圍: 360-1050nm
探測器：3648像素Si CCD陣列，16bit A/D
精度：1nm
斑點(diǎn)大小：>0.5mm 
光源：LED混合光源（ 360-1050nm )
所測樣品大?。?0-150mm,
計(jì)算機(jī)要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：300x110x500mm 
重量：600克
便攜式薄膜測厚儀應(yīng)用
用于薄膜吸收率,透過率和熒光測量，
用于化學(xué)和生物薄膜測量，傳感測量
用于光電子薄膜結(jié)構(gòu)測量  
用于半導(dǎo)體制造
用于聚合物薄膜測量 
在線薄膜測量
光學(xué)鍍膜測量、