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植物冠層分析儀的原理介紹
植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線(xiàn)的攔截，研究作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系?？蓽y(cè)量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透光率、不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測(cè)量分析及農(nóng)業(yè)科研工作。
植物冠層分析儀工作原理：采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過(guò)冠層孔隙的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。
LAI-2200C植物冠層分析儀利用“魚(yú)眼"光學(xué)傳感器（垂直視野范圍148°，水平視野范圍360°）測(cè)量樹(shù)冠上、下5個(gè)角度的透射光線(xiàn)，利用植被樹(shù)冠的輻射轉(zhuǎn)移模型計(jì)算葉面積指數(shù)、平均葉傾角、空隙比、聚集度指數(shù)等樹(shù)冠結(jié)構(gòu)參數(shù)。